博碩士論文 92225018 完整後設資料紀錄

DC 欄位 語言
DC.contributor統計研究所zh_TW
DC.creator張毓芳zh_TW
DC.creatorYu-Fang Changen_US
dc.date.accessioned2005-6-28T07:39:07Z
dc.date.available2005-6-28T07:39:07Z
dc.date.issued2005
dc.identifier.urihttp://ir.lib.ncu.edu.tw:88/thesis/view_etd.asp?URN=92225018
dc.contributor.department統計研究所zh_TW
DC.description國立中央大學zh_TW
DC.descriptionNational Central Universityen_US
dc.description.abstract在醫學及工業界裡,觀測實驗品之壽命往往受時間及成本等限制,觀察工作只能作到某一特定時間。因此,無法收集到完整的資料,僅收集到一些設限資料(censored data)。Zhang 和 Chen(2004)針對壽命服從韋伯分配之設限資料,提出雙圖偵測法,利用兩個管制圖:上界EWMA CEV管制圖和下界EWMA CEV管制圖,分別偵測製程平均數是否上升和下降,此方法同時利用兩個管制圖偵測製程平均數,但如果能夠使用單一管制圖進行監控平均數上升或下降,在整個監控過程或許更為便利。因此,本研究針對產品壽命時間服從韋伯分配且為型I右方設限之資料,提出三種EWMA CEV管制圖,試圖利用單一管制圖來偵測製程平均數是否上升或下降,以代替Zhang 和 Chen(2004)的雙圖偵測zh_TW
DC.subject平均連串長度zh_TW
DC.subject指數加權移動平均管制圖zh_TW
DC.subject韋伯分配zh_TW
DC.subject型I 設限zh_TW
DC.subject右方設限zh_TW
DC.title偵測設限資料之EWMA管制方法zh_TW
dc.language.isozh-TWzh-TW
DC.type博碩士論文zh_TW
DC.typethesisen_US
DC.publisherNational Central Universityen_US

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