博碩士論文 88225003 詳細資訊




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姓名 姜曉玲( Xiao-Ling Jiang)  查詢紙本館藏   畢業系所 統計研究所
論文名稱 逐步應力加速衰變試驗壽命推估之模擬研究
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摘要(中) 高可靠度產品壽命的評估,而Tseng&Wen (2000)所提出的逐步應力
加速衰變試驗(SSADT)較ALT 及ADT 更能有效縮減試驗時間及試驗的
成本。而在Tseng&Wen (2000)中假設產品品質特性值的誤差項為相
互獨立的常態分配,這與實際的情況並不符合;於是吳明霞(2000)
的文章假設產品的品質特性值是以Wiener 過程進行且利用此模型下
所對應的產品壽命為一轉換型逆高斯分配來探討產品的壽命。
本篇文章將在二種不同衰變模式假設下,一為一般常使用的在Si應力
水準下,考慮產品的衰變路徑為L(t| Si)=exp{-βi tα};另一個則是
考慮產品的衰變路徑為L(t| Si)=exp{-(α+βi t)},分別進行逐步應
力加速衰變試驗。而在進行逐步應力加速衰變試驗時,分別用二種方
法處理,一為假設產品品質特性值的誤差項為相互獨立的常態分布;
二為假設產品品質特性值是Wiener 過程。且在相同的衰變模式與試
驗條件下分別用兩種方法進行試驗,並比較其結果。目的在幫助我們
了解在不同的衰變模式下進行逐步應力加速衰變試驗,其在二種不同
的產品品質特性值假設下,所得到的結果是否有差異。
論文目次 第一章 前言
1.1 研究動機及目的 … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … …. . 1
1.2 文獻探討 … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … …. . 3
1.3 研究結構 … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … …. . 4
第二章 逐步應力加速衰變模型之介紹
2.1 SSADT 模型的應力安排 … … … … … … … … … … … … … … … … … … … ….. 6
2.2 SSADT 模型的簡介 … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … ….. 6
第三章 逐步應力加速衰變模型在衰變模型為L(t| Si)=exp{-βi tα}
假設下之壽命推估程序
3.1 產品品質特性值誤差項為常態分布之壽命推估程序 … … … … … … … ….. 8
3.2 產品品質特性值為Wiener 過程之壽命推估程序 … … … … … … … … ….. 16
3.3 兩種壽命推估程序結果之比較 . … … … … … … … … … … … … … … … … .. 29
第四章 逐步應力加速衰變模型在衰變模型為L(t| Si)=exp{-(α+βi t)}
假設下之壽命推估程序
4.1 產品品質特性值誤差項為常態分布之壽命推估程序 . … … … … … … ….. 31
4.2 產品品質特性值為Wiener 過程之壽命推估程序 … … … … … … … … ….. 39
4.3 兩種壽命推估程序結果之比較 . … … … … … … … … … … … … … … … …. . 50
第五章 二種衰變模型模擬結果之比較 … … … … … … … … … … … …... 52
第六章 結論 … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … …. 54
參考文獻 .… … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … …... 56
參考文獻 【1】Boulanger,Michele and Escobar,Luis A., “Experimental Design for a
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Theorem ,Methodology, and Applications, MARCEL DEKKER, INC (1989).
【3】Doksum,Kjell A. and Hoyland,Arnljot ,“Models for Variable-Stree
Accelerated Life Testing Experiments Based on Wiener Processes and
the Inverse Gaussian Distribution”,Technometrics,34,1,74-82 (1992).
【4】Meeker, William Q. and Escobar,Luis A., “A Review of Recent Research
and Curren Issues in Accelerated Testing”,International Statistical
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【5】Neter,John, Wasserman,William, Kuter,Michael H., Applied Linear
Regression Models, RICHARD D. IRWIN INC, 1983.
【6】Nelson Wayne, Accelerated Testing:Statistical Models, Test Plans,
and Data Analysis, JOHN WILEY&SONS,1990.
【7】Ross ,Sheldon M.,Introduction to Probability Models, ACADEMIC PRESS,
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【8】Tseng,Sheng-Tsaing and Wen,Zhi-Chih ,“Step-Stress Accelerated
Degradation Analysis For Highly Reliable Products”, Journal of
Quality Technology, 32, 209-216 (2000).
【9】Tseng,Sheng-Tsaing and Wen,Zhi-Chih ,“Determining an Appropriate
Termination Time for an Accelerated Degradation Experiment”,
Statistica Sinica, 8, 207-220 (1998).
【10】吳明霞, 高可靠度產品之逐步應力加速衰變試驗(Based on Wiener
Process), 清華大學碩士論文 (2000).
指導教授 呂理裕(Lii-Yuh Leu) 審核日期 2001-6-15
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