博碩士論文 88225018 詳細資訊




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姓名 李書豪( Shu-Hao Li)  查詢紙本館藏   畢業系所 統計研究所
論文名稱 最佳化退化實驗之模擬與分析
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摘要(中) Life Test;ALT),但對於高性能產品而言,似乎並不實際。因此,
加速退化檢定(Accelerated Degradation Test;ADT)被廣泛地用
來評估高性能的產品而有別於一般的壽命檢定。因此本篇論文針對兩
種合適的模型討論其最後計劃與模擬研究。
為了做一個有效的退化實驗,一些因素,如調查頻率(inspection
frequency),樣本數及終止時間(termination time),都必須仔細
考量。這些因素不但影響實驗成本,也影響產品壽命估計的精確性。
在這些限制下,利用總實驗成本不超過預算的這些最佳變數來求產品
之壽命分配的第100p 百分位數(percentile)的最小變異數。最後
用模擬及圖形分析的方法,並探討兩種退化模型的穩定性。
論文目次 第一章 緒論.......................... .......................... 1
第二章 實例與問題..................... ..................... 4
2.1 實例.............................. 4
2.2 面臨的問題........................ 5
第三章 退化模型為α βt ? 的假設............ ............ 7
3.1 模型的假設........................ 7
3.2 參數的估計........................ 9
3.3 計算變異數....................... 10
3.4 成本函數及最佳模型............... 13
第四章 退化模型為-( )t β α+ 的假設......... ......... 18
4.1 模型的假設....................... 18
4.2 參數的估計....................... 20
4.3 計算變異數....................... 21
4.4 成本函數及最佳模型............... 23
第五章 模擬研究...................... ...................... 27
5.1 模型為α β t ? 的模擬方法............. 27
5.2 模型為( ) t β α+ ? 的模擬方法........... 30
5.3 模擬分析......................... 32
5.4 結論............................. 35
附表................................ ................................ ................................. 37
參考文獻............................. ............................. 45
參考文獻 [1] Boulanger M.and Escobar L.A., “Experimental design for a
class of accelerated degradation tests”,Technometrics
36,1994,260-272.
[2] Casella George and Berger Roger L.,“Statistical
inference”,Duxbury Press,California,1990.
[3] Lu C.J.and Meeker W.Q.,”Using degradation measures to
estimate a time-to-failure distribution”,Technometrics
35,1993,161-174.
[4] Meeker W.Q.and Escobar L.A.,”A review of research and
current issues in accelerated testing”,Int Stat Rev
61,1993,147-168.
[5] Nelson W.,”Accelerated testing: Statistical models,test
plans,and data analysis”,Wiley,New York,1990.
[6] Ralston J.M.and Mann J.W.,”Temperature and current
dependence of degradation in red-emitting GaP LED’s”,J Appl
Phys 50,1979,3630-3637.
46
[7] Taha H.A.,”Operations research”,Macmillian,New York,1992.
[8] Tseng S.T. and Yu H.F.,”A termination rule for degradation
experiments”,IEEE Trans Reliab 46,1997,130-133.
[9] Tseng S.T.,Hamada M.,and Chiao C.H.,”Using degradation
data to improve fluorescent lamp reliability”,J Qual
technol 27,1995,363-369.
[10] Yu H.F.and Tseng S.T.,”Designing a degradation
experiment”,Naval Research Logistics,Vol.46 1999,
689-706.
[11] Yu H.F.and Tseng S.T.,”On-line procedure for terminating
an accelerated degradation test”,Statistica Sinica
8,1998,207-220.
[12] Yamakoshi S.,Hasegawa O.,Hamaguchi H.,Abe M., and Yamaoka
T.,”Degradation of high-radiance Ga1-xA1xAs
LED’s”,Appl,Phys Lett 31,1977,627-629.
指導教授 呂理裕(Lii-Yuh Leu) 審核日期 2001-6-19
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