博碩士論文 107450037 詳細資訊




以作者查詢圖書館館藏 以作者查詢臺灣博碩士 以作者查詢全國書目 勘誤回報 、線上人數:24 、訪客IP:35.175.107.77
姓名 詹益宏(Yi-Hung Chan)  查詢紙本館藏   畢業系所 高階主管企管碩士班
論文名稱 晶圓測試廠之提升整體設備效率方法研究-以A公司為例
相關論文
★ 內衣業標準工時設定之實務研究★ 派工法則於縮短DRAM 廠生產週期時間之探討—以A公司導入自動化派工系統為例
★ 企業如何在TQM、TPM及TP等管理模式下 運用6 Sigma管理系統之探討—以某日系家電製造公司為例★ 台灣TFT LCD產業發展及競爭力分析
★ 印刷電路板產業之外包程度與競爭力分析—以個案H公司為例★ 原料藥廠運籌管理的改善方案與執行績效 -以A公司為例
★ 條碼技術於生產管理的改善應用-以某輕金屬產業公司為例★ TFT-LCD對膠帶產業未來發展的探討--以膠帶業A公司為探究對象
★ 物流中心揀貨作業改善 - 以A公司為研究對象★ 國內上市企業導入ERP系統前後績效評估 -以D供應商之ERP系統為例
★ RFID的技術、發展、導入與物流的管理應用★ 台灣資訊產業兩岸分工經營模式發展探討-以A公司為例
★ 以平衡計分卡探討衛星定位計程車業之經營策略-以A公司為例★ 自行車業導入豐田生產方式之個案研究
★ 印刷電路板(PCB)多聯板報廢移植探討-以A科技公司為例★ 台灣電弧爐鋼鐵產業之策略分析-以A公司為例
檔案 [Endnote RIS 格式]    [Bibtex 格式]    [相關文章]   [文章引用]   [完整記錄]   [館藏目錄]   至系統瀏覽論文 ( 永不開放)
摘要(中) 本研究藉由晶圓測試廠製程所使用的主要設備種類,包含測試主機、探針機以及探針卡,找出探針卡是影響整體設備效率的關鍵因素。在產能規劃過程中,可支援生產的探針卡數量相對受到限制,原因是探針卡建置數量是依據晶圓產品型號而定,並且無法與其他型號共用,加上探針卡狀況容易隨著測試活動的增加而每況愈下。因此在測試廠的產能規劃範疇中,狀態良好的探針卡數量是決定產能多寡的最重要因素。因此,發展出一套有效的現場管理策略,將手中有限的生產資源發揮最大經濟效益,就能有效的提升整體設備效率。
個案公司之所以能夠有效提升整體設備效率的成功關鍵有兩點,第一點重視及時處置對整體設備效率帶來正面改善:以實際的例子發現,當違反統計分類限制觸發時採取及時處置,雖然會造成當下機台的當機以及需要重新架機的時間增加,但卻可以大幅改善產品重工的時間。採取及時處置的策略可使得產品良率問題擴大之前,便以較小的代價恢復機台的有效產能。第二點發展混合式探針卡及時處理策略:單一的探針卡處理策略,僅能優化單一項目的機台狀態,卻無法兼顧其他項目的機台狀態,導致整體設備效率非最佳化。混合式處理策略可兼顧三項機台狀態的績效皆保持一定水準,避開單一項目最差而拖累整體設備效率的情況。因此發展混合式探針卡及時處理策略,會對整體的生產效能提升有較大助益。
摘要(英) In this study, the main types of equipment used in the wafer sort, including tester, prober and probe card. Find the probe card is a key factor. In the capacity planning process, the number of probe cards that can be supported for production is relatively limited, because the number of probe cards built depends on the wafer product and cannot be shared with other product, plus the status of the probe card is easy to follow with the increase in testing activities, the situation is getting worse. An effective on-site management strategy has been developed to maximize the benefits of the limited probe card in hand, and the overall equipment effectiveness can be effectively improved.
There are two key conclusions to make it happened. The first key conclusions is emphasis on timely disposal brings positive improvement to the overall equipment effectiveness:This study found that with practical examples, timely disposal is taken when the violation of statistical classification restrictions is triggered. Although it will cause the machine downtime and required to reinstall the machine. However, it can greatly improve the time for product reworking. The second key conclusions is develop multi-actions for probe card timely processing strategy:A single action can only optimize the machine status of a single downtime, resulting in non-optimized overall equipment effectiveness. The multi-actions strategy can reduce the three down time and maintain a certain level, avoiding the worst situation of a single down time and dragging on the overall equipment effectiveness.
關鍵字(中) ★ 晶圓測試廠
★ 整體設備效率
★ 半導體
關鍵字(英) ★ Wafer Sort
★ Overall Equipment Effectiveness
★ Semiconductor
論文目次 第一章 緒論 1
1.1 研究背景 1
1.2 研究動機 2
1.3 研究目的 2
1.4 研究範圍 3
1.5 論文架構 3
第二章 文獻探討 6
2.1 半導體產業與封測產業分析 6
2.2 晶圓測試廠製程簡介 7
2.3 整體設備效率的定義與發展 9
2.4 整體設備效率的應用與實務方面 11
2.5 文獻探討小結 14
第三章 個案公司介紹 16
3.1 個案公司簡介 16
3.2 發展歷程 19
3.3 經營理念 21
3.4 主要產品與服務 23
3.5 經營策略與產品應用 24
3.6 研究議題之背景介紹 27
第四章 個案分析與探討 28
4.1 個案背景 28
4.1.1 晶圓測試廠整體設備效率的定義 28
4.1.2 晶圓測試作業機構及原理介紹 31
4.1.3 影響晶圓測試廠整體設備效率的主要因素 34
4.2 提升晶圓測試廠整體設備效率的可行方法 35
4.2.1 策略一:全重測 35
4.2.2 策略二:線上處理 36
4.2.3 策略三:線下處理 37
4.2.4 策略四:線上及線下混合處理 38
4.3 策略實施結果 39
4.3.1 策略一:全重測 39
4.3.2 策略二:線上處理 40
4.3.3 策略三:線下處理 41
4.3.4 策略四:線上及線下混合處理 42
4.4 策略實施小結 43
第五章 結論與建議 45
5.1 研究結論 46
5.2 對個案公司的建議 49
5.3 後續研究的建議 50
參考文獻 51
參考文獻 一、中文部份:
1. 大野耐一. (2011). 追求超脫規模的經營:大野耐一談豐田生產方式(初版),吳廣洋譯. 台北市:財團法人中衛發展中心.
2. 何應欽譯. (2018). 作業管理(十三版), 台北市: 美商麥格羅希爾國際股份有限公司台灣分公司.
3. 沈怡瑄. (2003). 以適應性批貨/設備配對策略與遺傳演算法於晶圓測試廠最佳化之派工與排程. 台灣大學資訊工程學系學位論文.
4. 卓祺珮. (2010). 封測企業成長之研究-以日月光, AMKOR, 矽品為例. 交通大學管理學院碩士在職專班財務金融組學位論文.
5. 林金宏. 洪志洋, & 呂克明. (2007). 以 TPM 法提升半導體製造設備績效之研究. 交通大學管理學院科技管理學系學位論文.
6. 林黃瑞 (2018). IC封測業, 台北市: 華南投顧.
7. 邱俊斌. (2006). 半導體廠設備綜合效力之探討─ 以半導體測試廠為例. 成功大學工業與資訊管理學系學位論文.
8. 紀明佳. (2008). 半導體封裝廠生產效率之評估分析. 國立高雄第一科技大學運籌管理系學位論文.
9. 張上瑾 (2017). 應用派工法則提高生產效率之研究–以晶圓測試廠為例. 中華大學企業管理學系學位論文.
10. 許維宬. (2018). 運用精實管理與價值流圖進行生產效率優化-以 E 公司測試區為例. 朝陽科技大學工業工程與管理系學位論文.
11. 陳世欽. (2016). 8D 提升半導體封裝上片設備之生產效率. 逢甲大學工業工程與系統管理學系學位論文.
12. 趙明鴻. (2017). 運用限制理論與綜合設備效率改善IC封裝生產流程. 東海大學高階經營管理學系學位論文.
13. 鄭達才 (2000). 設備維護管理:現在與未來. 新北市: 中國生產力中心.
14. 謝育倫. (2016). 生產線人員排班最佳化模式之個案研究–以IC最終測試廠為例. 交通大學管理學院資訊管理學系學位論文.
15. 蘇亮綱. (2005). 利用TEST SPC 提升測試設備綜合效率及使用率(OEE)/ (OEU). 台灣科技大學工業管理系學位論文.
二、外文部分:
1. Fisher, M. L., & Ittner, C. D. (1999). The impact of product variety on automobile assembly operations: Empirical evidence and simulation analysis. Management science,45(6), 771-786.
2. Hartmann, E. (1992). Successfully installing TPM in a non-Japanese plant: total productive maintenance. TPM Press.
3. Jonsson, P., & Lesshammar, M. (1999). Evaluation and improvement of manufacturing performance measurement systems‐the role of OEE. International Journal of Operations & Production Management.
4. Konopka, J. M. (1997). Improving output in semiconductor manufacturing environments.
5. Leachman, R. C. (1997). Closed-loop measurement of equipment efficiency and equipment capacity. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, 10(1), 84-97.
6. Naguib, H. (1994). On the Calculation of the Overall Equipment Effectiveness (OEE) and its Applications to Semiconductor Equipment. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing.
7. Nakajima, S. (1988). Introduction to TPM: total productive maintenance. (Translation). Productivity Press, Inc., 1988,, 129.
8. SEMI (2002), Equipment Engineering Capabilities Guideline (Phase2.5), SEMI International Standards.
9. SEMI E10 (2004), SEMI E10-0304E , Specific Action for Definition and Measurement of Equipment Reliability, Availability, and Maintainability (RAM), SEMI.
10. Suzuki, T. (1994). TPM in Process Industries, Productivity press.
11. V.A. Ames, Gililland, J., Konopka, J., Schnabl, R., & Barber, K. (1995). Semiconductor Manufacturing Productivity Overall Equipment Effectiveness (OEE) Guidebook Revision 1.0.Technology Transfer# 95032745A-GEN.
12. Yuki, Y. (2002). Alarm system optimization for increasing operations productivity. ISA transactions, 41(3), 383-387.  
三、中外網站:
1. DIGITIMES。https://www.digitimes.com.tw/
2. IEEE Xplore。https://ieeexplore.ieee.org
3. MBA智庫百科。https://www.mbalib.com/
4. SEMI。http://www1.semi.org/
5. 日月光全球資訊網。https://ase.aseglobal.com/
6. 公開資訊觀測站。http://mops.twse.com.tw
7. 台灣經濟研究院。https://tie.tier.org.tw/
8. 艾克爾全球資訊網。https://amkor.com/
9. 矽品全球資訊網。https://www.spil.com.tw/
10. 拓墣產業研究院。https://www.topology.com.tw/
11. 科技新報。https://technews.tw/
12. 科技政策研究與資訊中心。https://www.stpi.narl.org.tw/
13. 財訊。https://www.wealth.com.tw/
14. 經濟部技術處。http://www.itis.org.tw/
15. 資策會產業情報研究所。http://mic.iii.org.tw/
16. 維基百科。https://zh.wikipedia.org
17. 數位時代。https://www.bnext.com.tw/
指導教授 何應欽 審核日期 2020-6-1
推文 facebook   plurk   twitter   funp   google   live   udn   HD   myshare   reddit   netvibes   friend   youpush   delicious   baidu   
網路書籤 Google bookmarks   del.icio.us   hemidemi   myshare   

若有論文相關問題,請聯絡國立中央大學圖書館推廣服務組 TEL:(03)422-7151轉57407,或E-mail聯絡  - 隱私權政策聲明