博碩士論文 108553016 詳細資訊




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姓名 陳俊甫(Chun-Fu Chen)  查詢紙本館藏   畢業系所 通訊工程學系在職專班
論文名稱 LPDDR5 基板電路高速訊號完整性分析
(High-Speed Signal Integrity Analysis of LPDDR5 Substrate)
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摘要(中) 近年來電子產品講求輕、快、薄,加上AI的崛起,記憶體也需要更快的存取速度,而低功率記憶體進入到第五代的技術,工作頻率也更加的快速,在高頻下,訊號完整性的問題更加的重要。
本論文會針對三個部份來進行討訊號完整性討論,第一部分為封裝型型態對於訊號完整性的影響,第二部分為基板結構設計對於訊號完整性的影響,第三部分為Layout設計對於訊號完整性的影響,透過這三部分的研究來找出第五代低功率記憶體的基板設計方向。
摘要(英) In recent years, e lectronic products emphasize lightness, fast, and
thinness. With the rise of artificial intelligence, memory also needs to be
accessed faster. Low power memory has entered the fifth generation of
technology and operates more frequently. At high frequencies , signal
integrity becomes more important.
This article discusses signal integrity in the following three aspects.
The first part examines the effect of package type on signal integrity. The
second part focuses on the impact of substrate structure desi gn on signal
integrity. Finally, the third part examines the impact of layout design on
signal integrity. Through these three studies, we aim to determine the
substrate design direction for the fifth generation of low power memory.
關鍵字(中) ★ LPDDR
★ 訊號完整性
關鍵字(英) ★ LPDDR
★ Signal Integrity
論文目次 第1章 緒論------------------------------1
1.1 研究動機----------------------------1
1.2 文獻回顧----------------------------1
1.3 研究方法----------------------------4
1.4 論文架構----------------------------5
第2章 訊號完整性基本原理------------------6
2.1 傳輸線原理與特徵阻抗-----------------6
2.2 微帶線與帶狀線之特徵阻抗-------------9
2.3 S參數------------------------------10
2.4 眼圖-------------------------------11
2.5 傳輸線損耗--------------------------13
第3章 封裝型態訊號完整性分析---------------14
3.1 打線與覆晶製程簡介-------------------14
3.2 打線與覆晶製程於LPDDR5設計差異--------16
3.3 模擬環境與參數設定-------------------17
3.4 打線與覆晶製程S參數分析--------------19
3.5 打線與覆晶製程眼圖分析---------------21
第4章 基板結構設計模擬分析----------------24
4.1 模擬環境與參數設定-------------------25
4.2 膠片厚度改變對於訊號完整性影響--------26
4.2.1 膠片厚度改變的S參數分析------------27
4.2.2 膠片厚度改變的眼圖分析-------------28
4.3 介電系數改變對於訊號完整性影響--------30
4.3.1 介電系數改變的S參數分析------------31
4.3.2 介電系數改變的眼圖分析-------------32
4.4 損耗因子改變對於訊號完整性影響--------33
4.4.1 損耗因子改變的S參數分析------------34
4.4.2 損耗因子改變的眼圖分析-------------35
4.5 基板結構設計總結---------------------37
第5章 Layout設計模擬分析 -----------------38
5.1 L2參考層挖空設計---------------------38
5.1.1 L2參考層挖空設計S參數-------------39
5.1.2 L2參考層挖空設計眼圖分析-----------39
5.2 Via and Anti-Pad gap設計------------40
5.2.1 Anti-Pad gap設計S參數分析----------41
5.2.2 Anti-Pad gap設計眼圖分析-----------42
5.2.3 僅在L2層進行Anti-Pad gap設計分析---44
5.3 Layout設計總結-----------------------46
結論--------------------------------------47
參考文獻----------------------------------49
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指導教授 張大中 審核日期 2023-7-11
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