博碩士論文 87324014 詳細資訊


姓名 蔡良盛(Lian-She Tsai)  查詢紙本館藏   畢業系所 電機工程學系
論文名稱 基於IEEE 1057之類比數位轉換器量測技術
(IEEE 1057 Based ADC Test Methodology)
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摘要(中) 近年來由於混合信號的量測的需求據增,再加上單晶系統(system on chip:SOC)技術快速發展,使得晶片的容量變大,因而使得測試相對變的較複雜,所需測試時間亦較長,因此我們便根據IEEE 1057的標準,提出各種不同的量測方法,使傳統的大型混合信號測試機台,可以有一個很好的量測技術方法可參考。
為了使量測不因取樣的關係,產生不應該有的錯誤,因此我們先提出取樣點的頻率與週期的決選方法,為了使IEEE 1057(IEEE Standard for Digitizing Waveform Recorders)的各種量測方法,能夠看出對類比數位轉換器(analog to digital converter:ADC)的明顯差異,因此我們提出了非理想類比數位轉換器的錯誤模型,接著利用建立起來的非理想類比數位轉換器模型,使用IEEE 1057各種不同方法,針對我們數位類比轉換器量測比較其非理想特性,與雜訊對我們實際量測的差異,最後為了方便使用者能夠很方便的更改類比數位轉換器的各種規格,進行觀察各種測試方法所得到的不同結果,因此我們以MATLAB建立起一個使用者介面,使我們能夠很輕易更改不同的類比數位轉換器規格,並迅速的顯示各種不同的量測結果。
關鍵字(中) ★ 混合信號量測
★ 類比數位轉換器
★ 類比數位轉換器量測技術
關鍵字(英) ★ Mix signal testing
★ analog to digital
★ analog to digital test methodology
論文目次 第一章 簡介 1
1.1動機..............................................1
1.2研究方法.......................................... 1
1.3其他章節架構......................................4
第二章 取樣的基礎面 5
2.1取樣信號與取樣個數的關係..........................5
2.2頻率的選擇對我們信號分析的影響....................8
2.3由弦波峰值的量測來決定如何取樣....................10
第三章 類比數位轉換器非理想特性的探討 15
3.1類比數位轉換器增益與偏差量.........................15
3.2類比數位轉換器非線性特性的考量.....................18
3.3類比數位轉換器操作頻率特性的考量...................20
第四章 類比數位轉換器使用IEEE 1057 標準量測 22
4.1柱狀圖測試法.......................................22
4.2曲線符合度法.......................................26
4.3傅利葉分析法.......................................31
4.4單調與磁滯現象的量測...............................36
4.5時間基礎錯誤分析法.................................37
4.6步級嚮應分析.......................................40
第五章 MATLAB設計使用者介面 42
5.1MATLAB使用介面設計流程.............................42
5.2MATLAB各功能鍵設計簡單介紹.........................43
5.3 MATLAB控制測試視窗介紹............................45
第六章 結論 49
參考文獻 50
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指導教授 蘇朝琴(Chauchin Su) 審核日期 2000-6-30
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