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姓名	蔡良盛(Lian-She Tsai)  查詢紙本館藏	畢業系所	電機工程學系
論文名稱	基於IEEE 1057之類比數位轉換器量測技術 (IEEE 1057 Based ADC Test Methodology)
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摘要(中)	近年來由於混合信號的量測的需求據增，再加上單晶系統(system on chip:SOC)技術快速發展，使得晶片的容量變大，因而使得測試相對變的較複雜，所需測試時間亦較長，因此我們便根據IEEE 1057的標準，提出各種不同的量測方法，使傳統的大型混合信號測試機台，可以有一個很好的量測技術方法可參考。 為了使量測不因取樣的關係，產生不應該有的錯誤，因此我們先提出取樣點的頻率與週期的決選方法，為了使IEEE 1057(IEEE Standard for Digitizing Waveform Recorders)的各種量測方法，能夠看出對類比數位轉換器(analog to digital converter:ADC)的明顯差異，因此我們提出了非理想類比數位轉換器的錯誤模型，接著利用建立起來的非理想類比數位轉換器模型，使用IEEE 1057各種不同方法，針對我們數位類比轉換器量測比較其非理想特性，與雜訊對我們實際量測的差異，最後為了方便使用者能夠很方便的更改類比數位轉換器的各種規格，進行觀察各種測試方法所得到的不同結果，因此我們以MATLAB建立起一個使用者介面，使我們能夠很輕易更改不同的類比數位轉換器規格，並迅速的顯示各種不同的量測結果。
關鍵字(中)	★ 混合信號量測 ★ 類比數位轉換器 ★ 類比數位轉換器量測技術	關鍵字(英)	★ Mix signal testing ★ analog to digital ★ analog to digital test methodology
論文目次	第一章 簡介 1 1.1動機..............................................1 1.2研究方法.......................................... 1 1.3其他章節架構......................................4 第二章 取樣的基礎面 5 2.1取樣信號與取樣個數的關係..........................5 2.2頻率的選擇對我們信號分析的影響....................8 2.3由弦波峰值的量測來決定如何取樣....................10 第三章 類比數位轉換器非理想特性的探討 15 3.1類比數位轉換器增益與偏差量.........................15 3.2類比數位轉換器非線性特性的考量.....................18 3.3類比數位轉換器操作頻率特性的考量...................20 第四章 類比數位轉換器使用IEEE 1057 標準量測 22 4.1柱狀圖測試法.......................................22 4.2曲線符合度法.......................................26 4.3傅利葉分析法.......................................31 4.4單調與磁滯現象的量測...............................36 4.5時間基礎錯誤分析法.................................37 4.6步級嚮應分析.......................................40 第五章 MATLAB設計使用者介面 42 5.1MATLAB使用介面設計流程.............................42 5.2MATLAB各功能鍵設計簡單介紹.........................43 5.3 MATLAB控制測試視窗介紹............................45 第六章 結論 49 參考文獻 50
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指導教授	蘇朝琴(Chauchin Su)	審核日期	2000-6-30
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