博碩士論文 88323110 詳細資訊




以作者查詢圖書館館藏 以作者查詢臺灣博碩士 以作者查詢全國書目 勘誤回報 、線上人數:9 、訪客IP:54.161.118.57
姓名 徐盛峰(Shin-Fong Xiu )  查詢紙本館藏   畢業系所 機械工程研究所
論文名稱 低通濾波器設計可靠度分析
相關論文
★ 非等強度分負荷系統之動態負載配置研究★ 倒傳遞類神經網路學習收斂之初步探討
★ 材料強度退化與累積損傷之探討★ 累積失效與可靠度關係之探討
★ 碳鋼材料在二氧化硫環境下之腐蝕可靠度行為之探討★ 動態可靠度模型之探討及其應用
★ 多目標量子搜尋之參數調控演算法★ 光纖材料之靜力疲勞可靠度分析
★ 競爭策略於系統行為之探討★ 應用動態可靠度模型預估電解電容器壽命之探討
★ 有限平板多條邊裂紋成長之探討★ 厚度或折射率變異對窄帶通濾光片之可靠度分析
★ 馬可夫過程的預防維護模型之研究★ 馬可夫過程在技術成長上之研究
★ 應用馬可夫預防維護模型於維修保養策略之探討★ 簡灰法之研究與應用
檔案 [Endnote RIS 格式]    [Bibtex 格式]    [相關文章]   [文章引用]   [完整記錄]   [館藏目錄]   [檢視]  [下載]
  1. 本電子論文使用權限為同意立即開放。
  2. 已達開放權限電子全文僅授權使用者為學術研究之目的,進行個人非營利性質之檢索、閱讀、列印。
  3. 請遵守中華民國著作權法之相關規定,切勿任意重製、散佈、改作、轉貼、播送,以免觸法。

摘要(中) 在研究可靠度的問題時,可將可靠度問題分為兩類:1.可靠度在設計規格方面的問題 2.可靠度在壽命方面的問題,本文所討論的即是低通濾波器在元件變異下設計規格方面的的可靠度問題。何謂設計規格方面的可靠度問題,為考慮系統某部分之設計參數為隨機變數,造成可靠度之行為發生變化,如產品設計參數及製程設計參數等。
本文的主要架構,建立在以狀態限制函數配合蒙地卡羅法,分析類比電路系統的可靠度,並以低通濾波器為實例分析有關系統參數設計的可靠度。
考慮的系統包括兩種不同型式的Butterworth與Chebyshev低通濾波器,使用Sallen-Key電路做串級設計,在模擬中假設運算放大器為理想元件,電容電阻器等被動元件有製造上的精密度變異。首先給予訊號與雜訊分佈,然後決定濾波器的階數與設計規格,包括通過帶頻率與最大容許衰減、阻滯帶頻率與所需最小衰減以及截止頻率的設計,然後建立規格的限制函數,使用蒙地卡羅法對元件值變異分佈進行機率取樣模擬規格變異,符合規格限制的電路數除以取樣樣本數即可算出元件在不同精密度的影響下系統的的可靠度變化,並據此分析截止頻率的設計值。
此系統可靠度退化趨勢為單調遞減,與累積失效的可靠度退化相同,所以本文亦以本研究室所發展出之累積失效模式描述設計規格方面可靠度退化情形。
關鍵字(中) ★ 可靠度
★  濾波器分析
★  累積失效
★  規格可靠度
★  類比電路容差分析
關鍵字(英)
論文目次 第一章 緒論
1.1 研究動機與背景
1.2 相關文獻回顧
1.3 研究範圍
第二章 可靠度理論與電子系統可靠度
2.1 可靠度的定義
2.2 狀態限制函數
2.3 累積失效模式
2.4與設計規格有關之初始可靠度
2.5 電子系統可靠度
第三章 濾波器簡介與設計
3.1 濾波器簡介
3.2 濾波器種類
3.3 濾波器特性
3.4 一階與二階濾波器
3.5 濾波器設計流程
第四章 低通濾波器設計可靠度分析
4.1 低通濾波器設計規格失效定義
4.2 元件變異對低通濾波器頻率響應的影響
4.3 低通濾波器可靠度設計
第五章結論與建議
參考文獻
參考文獻 [1] M. Slamani, B. Kaminska, “Testing analog circuits by sensitivity computation,” IEEE, [3rd] European Conference, Design Automation, pp.532-537, 1992.
[2]R.V. White, “Component Tolerance And Circuit Performance: A Case Study,” IEEE, APEC '93, Conference Proceedings 1993., Eighth Annual , 1993 , pp. 922 —927.
[3]X.T. Ling, R.W. Liu, “Novel Methods for Circuit Worst-Case Tolerance Analysis,” IEEE, Circuits and Systems I: Fundamental Theory and Applications, Vol. 43 4, pp. 272 —278, April 1996.
[4]W.M. Smith, “Worst Case Circuit Analysis-An Overview (Electronic Parts/Circuits Tolerance Analysis),” IEEE, Reliability and Maintainability Symposium Annual, pp. 326-334, 1996.
[5]H. McWilliams, “Utilization of Monte Carlo and Worst-case Computer Simulation Methods for Evaluation of Electronic Circuit Designs,” Computer Educ. J., vol. II, no. 3, pp. 17-20, Sept, 1992.
[6]L.A. Kamas, S.R. Sanders, “Reliability Analysis via Numerical Simulation of Power Electronic Circuits,” IEEE Computers in Power Electronics, 4th Workshop, pp. 175 —179, 1994.
[7]K.S. Wang, E.H. Wan and W.G. Yang, “A Preliminary investigation of New Mechanical Product Development Based on Reliability Theory,” Reliability Engineering and system Safety, Vol. 40, 1993, pp. 187-194.
[8]W.J. Kolarik, Creating quality concepts systems strategies and Tools, McGraw Hill, N. Y., 1995.
[9]K.S. Wang, S.T. chang, Y.C. Shen, “Dynamic Reliability Models for Fatique Crack Growth Problem,” Engineering Fracture Mechanics, Vol.54, No.4, pp.543-556, 1996.
[10]張豪麟, “系統動態可靠度與其失效率關係的探討,” 國立中央大學機械工程研究所碩士論文, 1999.
[11]J.D. Wang, T.S. Liu, ”Robot Accuracy Assessment Using Reliability Theory,” Journal of the Chinese Society of Mechanical Engineers,Vol.12,No.2,pp.188-195, 1991.
[12]石逸群, “累積失效與可靠度關係之探討,” 國立中央大學機械工程研究所碩士論文,2000.
[13]M. Kaneko, Y. Fujikawa, “Boundary search approach to parameter design for analog circuits,” Circuits and Systems, 1994. APCCAS '94., IEEE Asia-Pacific Conference , 1994.
[14]R. Spence and R. Soin, “Tolerance Design of Electronic Circuits,” New York: Addison-Wesley, 1988.
[15]梁伯任, “材料強度退化與累積損傷之探討,” 國立中央大學機械工程研究所碩士論文, 2000.
[16]W.M. Smith, “Reliability and Maintainability Symposium,” 1996 Proceedings. International Symposium on Product Quality and Integrity, pp. 326 —334, 1996
[17]E. Lee, T. Wilson, “Methodology for Using Circuit Simulation in the Design and Development of Electronic Power Supplies,” IEEE Power Electronics Specialists Conference, pp.34-45, 1992.
[18]R. White, “An Introduction to Six Sigma with A Design Example,” IEEE APEC, pp.28-35, 1992.
[19]Richard Lee, “EMI filter design,” New York, 1996.
[20]何中庸, “濾波器分析與設計” 全華科技圖書公司, 1999.
[21]N.B. Hamida, B. Kaminska, “Analog Circuit Testing Based on Sensitivity Computation and New Circuit Modeling,” IEEE, Test Conference, pp.652-661, 1993.
[22]J.N. Siddall, “Probabilistic Engineering Design Principle and Applications,” Marcel Dekker, Inc., New York,1983.
[23]林地財, “通訊濾波器原理與電腦輔助設計,” 全華圖書公司, 1996
[24]K. Okada, N. Onodera, “Statistical modeling of device characteristics with systematic fluctuation,” IEEE International Symposium, Circuits and Systems , Vol.2, pp.437-440, 2000.
[25]Finn Jensen, “Electronic Component Reliability,” New York, 1995.
[26]M.F. Kavanaugh, “Including the effects of component tolerances in the teaching of courses in introductory circuit design,” IEEE Transactions, Education Vol. 38, pp.361-364, 1995.
指導教授 王國雄(Kuo-Shong Wang) 審核日期 2001-7-12
推文 facebook   plurk   twitter   funp   google   live   udn   HD   myshare   reddit   netvibes   friend   youpush   delicious   baidu   
網路書籤 Google bookmarks   del.icio.us   hemidemi   myshare   

若有論文相關問題,請聯絡國立中央大學圖書館推廣服務組 TEL:(03)422-7151轉57407,或E-mail聯絡  - 隱私權政策聲明