CCD 量測儀器之研究與探討

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姓名

劉大隆(TALUNG LIU) 查詢紙本館藏

畢業系所

光電科學研究所碩士在職專班

論文名稱

CCD 量測儀器之研究與探討
(CCD Measurement Apparatus Design and Review)

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摘要(中)

本論文目的是研發出可評判生產零件精確程度之CCD (Charge-coupled device)自動影像量測儀器，它適用於沖壓工廠與塑膠射出工廠量產時之抽驗設備，可以取代精密量測儀器，並降低生產成本。
在本研究的光學原理部份，我們將以傅立葉光學探討量測儀成像系統技術，而為了達成改良量測精確度的目標，我們針對各項關鍵元件與應用技術進行分析，包括：光源選擇與其傾斜度之校正、黑白和彩色CCD 成像精度的比較、量測儀之三軸精確度校正、儀器振動的抑制技術、環境溫度變化的監控與補償，以及最佳光圈數值與快門調整所得到的效果。
在成像精確度評估方式與改良技術部分，我們採用Gauge R&R
(Gauge Repeatability and Reproducibility)來判定儀器量測精確度，並提出多項成像精確度的改善方法；在量測儀的校正與驗證方法上，我們將基於機構監控與補償技術，藉由光學校正與統計分析方式，以及SPC(Statistical process control)統計製程管制技術，作為量測精確度的判讀考量，最後再將經由本研究自動量測儀器量測的結果與國家級儀器量測所得到數據進行比較與分析。

摘要(英)

The purpose of this study is to build up a CCD auto-measuring apparatus,which can be used as a sampling instrument for both press and plasticinjection factories.
In the concern of the optical imaging system for our apparatus, Fourier optics plays as a key role. In order to improve the precision of the image measurement system in this study, several key components are introduced.Some technologies are also adopted to the measuring apparatus, including the light source selection, the imaging difference between monochromatic and colorful CCD cameras, fine-tuning of the precision for stepping stages, vibration depression of CCD apparatus, ambient temperature monitoring and compensation methods, optimized f-number, the temperature compensation of stage driving motors.
In the concern of the precision evaluation for the CCD apparatus, the well-known Gauge R&R analysis is used. In the concern of the calibration and verification for the CCD apparatus, the SPC system was involved for product quality monitoring. Finally, we make the comparison of
measurement data with that from national-standard apparatuses, including ITRI’s and Mithutoyo’s setup.

關鍵字(中)

★ 等光程條件
★ 重複性
★ 取樣定理
★ 截止頻率
★ 孔徑光闌

關鍵字(英)

★ Isoplanatic condition
★ Repeatability
★ Sampling theorem
★ Cutoff frequency
★ Aperture Stop

論文目次

摘要 I
英文摘要 II
誌謝 III
目錄 IV
圖索引 VII
表索引 X
第一章緒論 1
1-1 研究動機 1
1-2 論文大綱 2
第二章影像量測儀架構與研究方法 3
2-1 CCD 自動量測儀器簡介 3
2-2 CCD 自動量測儀器校正與驗證方法 9
第三章像質評價分析與量測精確度評估 11
3-1 像質評價與分析 11
3-1-1 光學成像系統原理 11
3-1-2 畫質評估方式介紹 12
3-2 量測精確度評估 16
第四章成像精度改善之研究與分析 22
4-1 Gauge R&R 驗證照明優化 22
4-2 成像技術的應用與分析 25
4-2-1 MTF 測試與分析 25
4-2-2 取樣定理與CCD 低通濾波效果 27
4-2-3 角頻譜理論與儀器解析度 29
4-3 系統之光源選擇與傾斜度校正 41
4-3-1 光源選擇介紹 41
4-3-2 多-LED 光源之應用 42
4-3-3 色差對量測系統的影響 43
4-3-4 光源選用要領與傾斜度校正 44
4-4 色散問題與CCD 品質介紹 45
4-5 X-Y Table 溫差影響和製造精度之研究 46
4-5-1 X-Y-Z Table 驅動馬達發熱問題 46
4-5-2 環境溫度造成之影響 47
4-5-3 X-Y Table 製造精度之研究 48
4-6 測試儀器振動抑制之研究 49
4-7 量測儀校正與儀器量測數據比較 50
4-7-1 量測儀三軸校正和Gage R&R 評估 50
4-7-2 國家級儀器量測數據比較 52
第五章結論 54

參考文獻

1. J. W. Goodman, Introduction to Fourier Optics (Roberts & Company, United States,
2005).
2. M. Born and E. Wolf, Principles of Optics (Cambridge University, UK,1999).
3. 呂乃光，傅里葉光學，二版，機械工業出版社，北京，民國九十五年。
4. D. Malacara, Handbook of Optical Design (Marcel Dekker, New York, 2004).
5. D. Malacara and B.J. Thompson, Handbook of Optical Engineering (Marcel Dekker,
New York, 2001).
6. W. J. Smith, Modern Optical Engineering (McGraw-Hill, United States, 2000).
7. 龔祖同，光學手冊，一版，科學出版社，陜西省，民國七十七年。
8. 高木干雄和下田陽久主編，圖像處理技術手冊，科學出版社，北京，民國九十
七年。
9. B. E. A. Saleh, Fundamentals of Photonics (John Wiley & Sons, United States, 1991).
10. R. W. G. Hunt, “Objective in color reproduction,” J. Pho. Sci. 18, 205-215 (1970).
11. H. C. Lee, Introduction to Color Imaging Science (Cambridge University, UK, 2005).
12. M. Wertheimer, “Untersuchungen Zur Lehre von der Gastalt II,” Psy. For. 4, 301-350
(1923).
13. E. R. Davies, Machine Vision, Theory Algorithm Practicalities (Elsevier, San
Francisco, 2005).
14. R. C. Gonzalez and R. E. Woods, Digital Image Processing (Prentice-Hall, New
Jersey, 2002).
15. S. K. Shevell, The Science of Color (Elsevier, San Francisco, 2003).
16. 盧壽柞，光學名詞典，一版，國防工業出版社，北京，民國七十七年。
17. H. Scutoski and C. Sekar, "Introduction to Gage R&R Studies," http://www.swtest.
org/swtw_library/1998proc/PDF/T1_Hank.PDF.
18. T. Pyzdek, The Six Sigms Handbook (McGraw-Hill, United States, 2003).
19. M. K. Hart and R. F. Hart, "Statistical Process Control Techniques," http://www.statit.
com /statitcustomqc/StatitCustomQC_Overview.pdf.
20. S. Montabone, Beginning Digital Image Processing (Apress, New York, 2010).
21. V. N. Mahajan, Optical Imaging and Aberrations (SPIE, Washington, 1998).
22. S. Amelinckx, D. V. Dyck, J. V. Landuyt, and G.V. Tendeloo, Handbook of
Microscopy (VCH, Germany, 1997).
23. M. Watanabe and S. K. Nayar, “Telecentric Optics for focus analysis,”
in Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence (IEEE, 1997), pp.
1360-1364.
24. E. Hecht, Optics (Addison Wisley, San Francisco, 2002).
25. L. Mandel and E. Wolf, Optical Coherence and Quantum Optics (Cambridge
University, UK, 1995).
26. M. Bass, and V. N. Mahajan, Handbook of Optics I (McGraw-Hill, New York, 2010).
27. M. Bass, V. N. Mahajan, and E. V. Stryland, Handbook of Optics II (McGraw-Hill,
New York, 2010).
28. M. Bass, J. M. Enoch, and V. Lakshminarayanan, Handbook of Optic III (McGraw-
Hill, New York, 2010).
29. 馬場信幸，"α 鏡頭," http：//www.sonystyle.com.tw/dslr/class/baba/1-1.asp.
30. V. Sacek, "TELESCOPE OPTICS," http：//www.telescope-optics.net/chromatic.htm.
31. V. Bansal and B. Goyal, "Natural Grayscale Images Contrast Enhancement Using
Histogram Equalization Technique," http://ijccr.com/July2011/11.pdf.
32. C. T. Su, "Six Sigma," http://web.lit.edu.tw/~mlm/data/07data/0701/08.ppt
33. NI Tutorial, "Bandwidth, Sample Rate, and Nyquist Theorem," http://web.lit.edu.tw/
~mlm/data/07data/0701/08.ppt
34. C. Ziess, " Telecentric Visionmes Lenses," http://web.lit.edu.tw/~mlm/data /07data
/0701/08.ppt
35. 台灣儀器, "ZEISS O-INSPECT," http://www.ticgroup.com.tw/menu/products/mea/
O-INS PECT.asp

指導教授

孫慶成(Ching-Cherng Sun)

審核日期

2011-8-29

推文