專業半導體測試廠MES 系統導入狀況、成果及問題之探討-以A 公司為例

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李國成(Kuo-cheng Lee) 查詢紙本館藏

畢業系所

工業管理研究所在職專班

論文名稱

專業半導體測試廠MES 系統導入狀況、成果及問題之探討-以A 公司為例
(Discussion of the MES implement status, results and problems in semiconductor testing company – For A company as example)

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摘要(中)

隨著半導體產品整合之功能越來越多，產品愈趨複雜，因此對於測試的要求也愈來愈多，其測試成本亦愈來愈高。
由於半導體測試廠，在整個半導體的產業鏈中係屬於最末端，為最接進電子系統廠的部份，一旦將不良品誤放，所產生的品質成本將是IC 本身的數千數萬倍之多，因此對於快速生產、快速反應、資料正確性及客制化作業的需求為專業測試廠得以生存的基本條件。
A 公司為一專業的半導體測試廠，且所測試的產品均為高階且複雜的半導體產品，而客戶均為國內外半導體業界著名之晶圓代工廠及IC 設計公司，因此所面臨到需求與環境將更將嚴格。。
而MES 系統剛好可以應付日漸複雜的現場管理需求，因此A 公司在原有之WIP 系統已漸漸不敷使用，屢受客戶抱怨之下，便導入了IBM 為半導體後段設計的ASMView 系統，以便提供客戶更齊全且方便的測試服務。
本論文除了對半導體測試廠所面臨的挑戰之外，主要在探討A 公司在導入過程中及導入後的使用上，所遇到的問題與困擾，並且試圖提出相對應的解決方式。同時，本報告的內容可作為相關公司在導入MES 系統時的參考，以避免出現類似的問題，使得MES 系統的導入時使用上更加的順遂。

摘要(英)

As semiconductor product integrate more and more functions and become more complex, the request and cost issue of IC testing become very important issues. Semiconductor testing is the last step of the semiconductor supply chain and plays a role of assuring product quality. The quality cost of warranty and system repair will be thousand times of testing in case of missing picking up bad IC during testing. Quick response, quick production, correct data, flexibility and customization are basic factors of testing company to survey.
A company is a professional semiconductor testing company and focus on high level and complex product. Many customers of it are famous foundries and IC design houses and it faces more rigorous request from them.
The limitation and weakness of the former WIP system in A company caused customer’s complaint and could not support enough functions for production line management. Therefore, A company introduced IBM MES system – IBM ASMView system to provide more convenient and complete control and information functions.
This paper describes challenges of semiconductor testing industry and discusses A company’s problem and trouble during and after MES project. At the same time this paper will try to bring up some relative solutions. This paper can be a reference case to other company to avoid having similar problem and implement MES system more smoothly.

關鍵字(中)

★ 半導體測試
★ MES

關鍵字(英)

★ Semiconductor Testing
★ MES

論文目次

第一章、緒論
1.1.研究背景 1
1.2.研究動機 2
1.3.研究目的 3
1.4.研究限制及範圍 4
1.5.論文架構 5
第二章、文獻探討
2.1.MES 定義與演進. 7
2.2.MES 的功能. 9
2.3.MES 架構. 13
2.4.MES 優點. 16
2.5.MES 應用領域. 21
第三章、半導體產業與測試廠MES 使用之現況與趨勢
3.1.半導體產業介紹與產業分析 22
3.2.半導體測試廠在IC 產業供應鏈中之價值 29
3.3.測試產業與市場趨勢 31
3.4.專業測試廠的經營型態與定位 35
3.5.專業測試廠面臨之挑戰 36
3.6.專業測試廠對MES 系統之需求與採用之狀況 38
第四章、A 公司描述與MES 系統導入說明
4.1.個案公司介紹 41
4.2.A 公司製程簡介 43
4.3.導入原因、目的與範圍 49
4.4.系統評估選擇與系統架構 54
第五章、A 公司MES 系統導入過程、問題與改善方案之探討
5.1.導入過程 69
5.2.需求規劃與處理 73
5.3.系統導入之成果探討 78
5.4.導入過程及導入後問題與衝擊 80
5.5.解決與改善方案之探討 88
第六章、結論與建議
6.1.結論 93
6.2.對MES 系統使用於專業測試廠上之展望與未來研究方向建議 94
附錄、參考文獻96

參考文獻

中文部份：
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[11].MESA International White Paper No. 2, 1997.
[12].MESA International White Paper No. 5, 1997
[13].Michael McClellan，2005，Introduction to manufacturing execution systems

指導教授

何應欽(Ying-Chin Ho)

審核日期

2007-7-8

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