參考文獻 |
Chapter 1. Introduction
[1]. Jerkiecz, G. in Solid-Liquid Electrochemical Interface (ACS Symposium Series 656)
[2]. Jerkiecz, G.; Soriaga, M.P.; Uosaki, K.; Wieckowski, A. American Chemical Society, Washington, DC (1997) p. 1.
[3]. Schardt, B. C.; Yau, S. L.; Rinaldi, F. Science 1989, 243, 1050.
[4]. Mai, C.-F.; Shue, C.-H.; Yang, Y.-C.; Ou Yang, L.-Y.; Yau, S.-L.; Itaya, K. Langmuir 2005, 21, 4964.
[5]. Yang, Y.-C.; Yen, Y.-P.; Ou Yang, L.-Y.; Yau, S.-L.; Itaya, K. Langmuir 2004, 20, 10030.
[6]. Ou Yang, L.-Y.; Yau, S.-L.; Itaya, K. Langmuir 2004, 20, 4596.
[7]. Shue, C.-H.; Yau, S.-L. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 5489.
[8]. Kim, Y. G.; Yau, S. L.; Itaya, K. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 393.
[9]. Yang, L. M.; Yau, S. L. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 1769.
[10]. Yau, S.-L.; Gao, X.; Chang, S.-C.; Schardt, B. C.; Weaver, M. J. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 6049.
[11]. Magnussen, O. M.; Ocko, B. M.; Adzic, R. R.; Wang, J. Phys. Rev. B 1995, 51, 5510.
[12]. Wang, J.; Davenport, A. J.; Isaacs, H. S.; Ocko, B. M. Science 1992, 255, 1416.
[13]. Toney, M. F.; Melroy, O. R. in Electrochemical Interfaces: Modern Techniques for In-Situ Interface Characterization, edited by H. D. Abruna (VCH Verlag Chemical, Berlin, 1991) p. 57.
[14]. Toney, M. F. in The Application of Surface Analysis Methods to Environmental/Materials Interactions, edited by Baer, D. R.; Clayton, C. R.; Davis, G. D. (The Electrochemical Society, Pennington, NJ, 1991) p. 200.
[15]. Toney, M. F.; McBreen, J. Interface. 1993, 2, 22.
[16]. Ashley, K.; Pons, S. Chem. Rev. 1988, 88, 673.
[17]. Ataka, K.-I.; Osawa, M. Langmuir 1998, 14, 951.
[18]. Guyot-Sionnest, P.; Tadjeddine, A. Chem. Phys. Lett. 1990, 172, 341.
[19]. LeRille, A.; Tadjeddine, A.; Peremans, A.; Zheng, W. Q. Chem. Phys. Lett. 1997, 271, 95.
[20]. Tadjeddine, A.; Pluchery, O.; LeRille, A.; Humbert, C.; Buck, M.; Peremans, A.; Zheng, W. Q. J. Electroanal. Chem. 1999, 473, 25.
[21]. Tadjeddine, A.; Le Rille, A. Electrochim Acta. 1999, 45, 601.
[22]. Friedrich, K. A.; Daum, W.; Klünker, C.; Knabben, D.; Stimming, U.; Ibach, H. Surf. Sci. 1995, 335, 315.
[23]. Daum, W.; Dederichs, F.; Müller, J. E. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 766.
[24]. Matranga, C.; Guyot-Sionnest, P. J. Chem. Phys. 2000, 112, 7615.
[25]. Koch, G. H.; Brongers, M. P. H.; Thompson, N. G.; Virmani, Y. P.; Payer, J. H.Corrosion Cost and Preventive Strategies in the United States. Report
FHWA-RD-01-156 (Report by CC Technologies Laboratories, Inc. to Federal
Highway Administration (FHWA), Office of Infrastructure Research and
Development, McLean, 2001); khttp://www.corrosioncost.com/pdf/main.pdfl.
[26]. Erlebacher, J.; Aziz, M. J.; Karma, A.; Dimitrov, M.; Sieradzki, K. Nature 2001, 410, 450.
[27]. Weissmu¨ller, J. Science 2003, 300, 312.
[28]. Schmid, M.; Stadler, H.; Varga, P. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 1441.
[29]. Hebenstreit, E.L.D.; Hebenstreit, W.; Schmid, M.; Varga, P. Surf. Sci. 1999, 441, 441.
[30]. Wouda, P. T.; Nieuwenhuys, B. E.; Schmid, M.; Varga, P. Surf. Sci. 1996, 359, 17.
[31]. Gauthier, Y.; Dolle, P.; Baudoing-Savois, R.; Hebenstreit, W.; Platzgummer, E.; Schmid, M.; Varga, P. Surf. Sci. 1998, 396, 137.
[32]. Ritz, G.; Schmid, M.; Biedermann, A.; Varga, P. Phys. Rev. B. 1996, 53, 16019
[33]. Forty, A. J. Nature 1979, 282, 597.
[34]. Stratmann, M.; Rohwerder M. Nature 2001, 410, 420.
[35]. Renner, F. U.; Stierle, A.; Dosch, H.; Kolb, D.M.; Lee, T. L.; Zegenhagen, J. Nature 2006, 439, 707.
[36]. Renner, F. U.; Stierle, A.; Dosch, H.; Kolb, D.M.; Zegenhagen, J. Electrochemistry Communications 2007, 9, 1639.
[37]. Randler, R.J.; Kolb, D.M.; Ocko, B.M.; Robinson, I.K. Surface Science 2000, 447, 187.
[38]. Morris, D. E.; Singh, K. K.; Kirtikar, V.; Sinha, A. P. B. Physica C: Superconductivity (Amsterdam) 1994, 235, 903.
[39]. Liu, S. L.; Wu, G. J.; Xu, X. B.; Wu, J.; Shao, H. M. Solid State Communications 2005, 133(9), 615.
[40]. Kumaresan, R.; Moorthy Babu, S.; Ramasamy, P. Materials Chemistry and Physics 1999, 59, 107.
[41]. Kumaresan, R.; Moorthy Babu, S.; Ramasamy, P. Journal of Crystal Growth 1999, 198/199, 1165.
[42]. Venkatasamy, V.; Jayaraju, N.; Cox, S. M.; Thambidurai, C.; Stickney, J. L. Journal of The Electrochemical Society 2007, 154, H720.
[43]. Willardson, R. K.; Beer, A. C. Semiconductors and Semimetals vol. 18, Academic Press, New York. 1988.
[44]. Ramiro, J.; Camarero, E. G. J. Mater. Sci. 1996, 31, 2047.
[45]. Herman, M. A.; Pessa, M. J. App. Phys. 1985, 57, 2671.
[46]. Basol, B. M. Solar cells 1998, 23, 69.
[47]. Basol, B. M.; Stafsudd, O.M.; Bindal, A. Solar Cells 1985, 15, 279.
[48]. Basol, B. M.; Tseng, E. S. Appl. Phys. Lett. 1986, 48, 946.
[49]. Camarero, E. G.; Ramiro, J.; Fatas, E. Solar Energy Mat. 1985,39, 27.
[50]. Matsushita, K.; Kamata, A. J. Cryst. Growth. 1998, 184/185, 1228.
[51]. Shigenaka, K.; Uemoto, T.; Sugiura, L.; Ichizono, K.; Hirahara, K.; Kanno, T.; Saga, M. J. Cryst. Growth. 1992, 117, 37.
[52]. Wu, O .K.; Kamath, G. S. Semicond. Sci. Technol. 1991, 6, C6.
[53]. Wijewarnasuriya, P. S.; Aqariden, F.; Grein, C. H.; Faurie, J. P.; Sivananthan, S. J. Cryst. Growth. 1997, 175/176, 647.
[54]. Gawron, W.; Rogalski, A. Infrared Phys. Technol. 2002, 43, 157.
[55]. Florence, T. M. J. Electroanal. Chem. 1970, 27, 273.
[56]. Wang, J. Analytical Electrochemistry 1994, 1, 48.
[57]. Dong, S.; Wang, Y. Anal. Chim. Acta. 1988, 212, 341.
[58]. Yingjian, Li.; Wahdat, F.; Neeb, R. J. Anal. Chem. 1995, 351, 678.
[59]. Ocko, B.M. Nature 1996, 384, 250.
[60]. Huisman, W. J.; Peters, J. F.; Zwanenburg, J.; de Vries, S. A.; Derry, T.E.; Abernathy, D.; van der Veen, J. Friso. Nature 1997, 390, 379.
Chapter 2. Experimental Section
[1]. Binnig, G.; Rohrer, H.; Helv. Phys. Ada. 1982, 55, 726.
[2]. Bonnell, D. A. "Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy—Theory, Techniques and Applications," VCH, New York, 1993.
[3]. Chan, C. J. "Introduction to Scanning Tunneling Microscopy," Oxford University Press, New York, 1993.
[4]. Wickramasinghe, H. K. "Scanned Probe Microscopy," AIP Conf. Proc. 241, American Institute Physics, New York, 1992.
[5]. Kissinger, P. T.; Heineman, W. R. J. Chem. Educ. 1983, 60, 702.
[6]. Van Benschoten, J.J.; Lewis, J.Y.; Heineman, W.R.; Rosten, D.A.; Kissinger, P.T. J. Chem. Educ. 1983, 60, 772.
[7]. Mabbott, G. M. J. Chem. Educ. 1983, 60, 697.
[8]. Baldwin, R. P.; Ravidhandran, K.; Johnson, R. K. J. Chem. Educ. 1984, 61, 820.
[9]. N.W. Ashcroft, N. W.; Mermin, N. D. Solid State Physics 1976.
[10]. Danilov, A. I.; Molodkina, E. B.; Polukarov, Yu.M.; Feliu, J. M.; Russ. J. Electrochem. 2002, 38, 754.
[11]. Wu, K.; Zei, M. S. Surf. Sci. 1998, 415, 212.
[12]. Yang, Y.-S.; Shu, C. H.; Liao, C. C.; Yau, S. L. J. Electroanal. Chem. 2003, 556, 53.
Chapter 3. Deposition and Alloy Formation of Mercury Film on Well-Ordered Pt(111) Electrode
[1]. Kolb, D. M.; Lehmpfuhl, G.; Zei, M. S.; J. Electroanal. Chem. 1984, 179, 289.
[2]. Zei, M.S.; Ertl, G. Surf. Sci. 1999, 442, 19.
[3]. Pinheiro, A. L. N.; Zei, M. S.; Luo, M. F.; Ertl, G.; Surf. Sci. 2006, 600, 641.
[4]. Fertonani, F.L.; Benedetti, A.V.; Servat, J.; Portillo, J.; Sanz, F. Thin Solid Films. 1999, 349, 147.
[5]. Magnussen, O. M.; Hotlos, J.; Beitel, G.; Kolb, D. M.; Behm, R. J.; J. Vac. Sci. Technol. B. 1991, 9, 969.
[6]. Wormeester, H.; Uger, E. H.; Bauer, E.; Phys. Rev. Lett. 1996, 77, 1540.
[7]. Hashizumi, T.; Xu, Q. K.; Zou, J.; Ichimiya, A.; Sakurai, T. Phys. Rev. Lett. 1994, 73, 2208.
[8]. Luo, M. F.; Wen, W. H.; Lin, C. S.; Chiang, C. I.; Sartale, S. D.; Zei, M. S. Surf. Sci. 2007, 601, 2139.
[9]. Zei, M. S.; Lei, T.; Ertl, G. Phys. Chem. 2003, 217, 447.
[10]. Ambrose, T.; Krebs, J. J. Prinz, G. A. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 3280.
[11]. Shima, T.; Moriguchi, T.; Mitani, S.; Takanashi, K. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 288.
[12]. Wang, J. Analytical Electrochemistry, VCH Publishers, Inc., New York, 1994.
[13]. Wechter, C.; Osteryoung, J. Anal. Chim. Acta. 1990, 234, 275.
[14]. Milare, E.; Turquetti, J. R.; Souza, G. R.; Benedetti, A.V.; Fertonani, F.L.; J. Therm. Anal. Calorim. 2006, 86, 403.
[15]. Ionashiro, E. Y.; Fertonani, F. L. Thermochim. Acta. 2002, 283, 153.
[16]. Lahiri, S.K.; Gupta, D.; J. Appl. Phys. 1980, 51, 555.
[17]. Danilov, A. I.; Molodkina, E. B.; Polukarov, Yu. M.; Feliu, J. M.; J. Electrochem. 2002, 38, 754.
[18]. Wu, K.; Zei, M. S.; Surf. Sci. 1998, 415, 212.
[19]. Yang, Y.-S.; Shu, C. H.; Liao, C. C.; Yau, S. L. J. Electroanal. Chem. 2003, 556, 53.
[20]. Barret, C. S. Acta Cryst. 1957, 10, 58.
[21]. Bauer, E.; Nowotny, H.; Stempfl, A. Monatshefte fuer Chemie. 1953, 84, 692.
[22]. Robbins, G. D.; Enke, C. G. J. Electroanal. Chem. 1969, 23, 343.
[23]. Meyer, J. A.; Schmidt, P.; Behm, R. J. Phys. Rev. Lett. 1995, 74, 3864.
[24]. Galloway, H. C.; Benitez, J. J.; Salmeron, M.; J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 2302.
[25]. Kim, Y. J.; Westphal, C.; Ynzunza, R. X.; Wang, Z.; Galloway, H. C.; Salmeron, M.; Van Hove, M. A.; Fadley, C. S. Surf. Sci. 1998, 416, 68.
[26]. Brune, H.; Roder, H.; Boragno, C.; Kern, K. Phys. Rev. B. 1994, 49, 2997.
[27]. Lundgren, E.; Stanka, B.; Schmid, M.; Varga, P. Phys. Rev. B 2000, 62 2843.
[28]. Bott, M.; Hohage, M.; Michely, T.; Comsa, G. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 1489.
[29]. Gunter, C.; Vrijmoeth, J.; Hwang, R. Q.; Behm, R. J. Phys.Rev. Lett. 1995, 74, 754.
[30]. Meyer, J. A.; Schmid, P.; Behm, R. J. Phys. Rev. Lett. 1995, 74, 3864.
[31]. Baddeley, C. J.; Stephenson, A. W.; Hardacre, C.; Tikhov, M.; Lambert, R. M. Phys. Rev. B 1997, 56, 589.
[32]. Stratmann, M.; Rohwerder, M. Nature 2001, 410, 420.
[33]. Renner, F. U.; Stierle, A.; Dosch, H.; Kolb, D. M.; Lee, T. L.; Zegenhagen, J. Nature 2001, 439, 707.
Chapter 4. STM Imaging Iodine, Cadmium and Copper Adlayers on Ir(111)-Supported Mercury Film Electrode
[1]. Venkatasamy, V.; Jayaraju, N.; Cox, S. M.; Thambidurai, C.; Stickney, J. L. Journal of The Electrochemical Society 2007, 154, H720.
[2]. Kumaresan, R.; Moorthy Babu, S.; Ramasamy, P. J. Crystal Growth, 1999, 198/199, 1165.
[3]. Yang, Y.-S.; Shu, C. H.; Liao, C. C.; Yau, S. L. J. Electroanal. Chem. 2003, 556, 53.
[4]. Inukai, J.; Sugita, S.; Itaya, K.; J. Electroanal. Chem. 1996, 403, 159.
[5]. Wu, H. L.; Yau, S. L.; Zei, M S. Electrochimica Acta (2008) in press.
[6]. Xie, Z.-X.; Kolb, D. M. J. Electroanal. Chem. 2000, 418, 177.
[7]. Delawskit, E.; Parkinson, B. A. J. Am. Chem. Soc.1992, 114, 1661.
[8]. Mao, B. W.; Ye, J. H.; Zhuo, X. D.; Mu, J. Q.; Fen, Z. D.; Tian, Z. W. Ultramicroscopy 1992, 42-44, 464.
[9]. Bruce Parkinson. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 7498.
[10]. Yamaguchi, W.; Shiino, O.; Sugawara, H.; Hasegawa, T.; Kitazawa, K. Applied Surface Science 1997, 119, 67.
[11]. Herrero, E.; Abruna, H. D. Langumuir 1997, 13, 4446.
[12]. Herrero, E.; Abruna, H. D. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 444.
[13]. Ocko, B. M.; Watson, G. M.; Wang, J. J. Phys. Chem. 1994, 98, 897.
[14]. Yamada, T.; Batina, N.; Itaya, K. J. Phys. Chem. 1995, 99, 8817.
[15]. Schardt, B. C.; Yau, S. L.; Rinaldi, F. Science 1989 , 243 , 1050.
[16]. Andryushechkin, B. V.; Eltsov, K. N.; Shevlyuga, V. M. Surface Science 2001, 472, 80.
[17]. Inukai, J.; Osawa, Y.; Itaya, K. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 10034.
[18]. Markov, Yu. F.; Knorr, K.; Roginski, E. M. Physics of the solid state 2001, 73,1360.
[19]. Kleinert, M.; Waibel, H.-F.; Engelmann, G. E.; Martin, H.; Kolb, D. M. Electrochimica Acta 2001, 46, 3129.
[20]. Schmidt, U.; Vinzelberg, S.; Staikov, G. Surface Science 1996, 348, 261.
[21]. Ge, M.; Gewirth, A. A. Surface Science 1995, 324, 140.
[22]. Morin, S.; Lachenwitzer, A.; Möller, F. A.; Magnussen, O. M.; Behm, R. J. Journal of The Electrochemical Society 1999, 146, 1013.
[23]. Moller, F. A.; Kintrup, J.; Lachenwitzer, A.; Magnussen, O.M.; Behm, R. J. Physcical review B 1997, 56, 506.
[24]. Moller, F. A.; Magnussen, O. M.; Behm, R. J. Physical Review Letter 1996, 77, 3165.
[25]. Sashikata, K.; Furuya, N.; Itaya, K. J. Electroanal, Chem. 1991, 316, 361.
[26]. Machaelis, R.; Zei, M. S.; Zhai, R. S.; Kolb, D. M. J. Electroanal. Chem. 1992, 339, 299. |