博碩士論文 945201006 詳細資訊




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姓名 莊勝富(Sheng-fu juang)  查詢紙本館藏   畢業系所 電機工程學系
論文名稱 電阻串聯式連續參考值產生器的佈局
(Layout of a Resistor-String Successive Reference Generator)
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摘要(中) 電阻串式數位類比轉換器電路在實際應用上具有能迅速產生連續參考電壓值、保證單調性的好處,然而在實體佈局層面,如果導線電阻不一致時,會造成積分非線性誤差變差。利用我們所提出的局部性以及全面性佈局策略,依導線長度和接點個數來調整導線寬度,能有效率地同時降低探戈行軍式蛇行排法的導線電阻到8.99歐姆,並且控制導線電阻的標準差到0.055歐姆;外接引線時並且調整電阻兩端的接點個數,使電阻端點的阻值一致,如此來抑制非線性累積誤差達到0.3215個最小位元電壓以下。
摘要(英) The resistor-string digital-to-analog converter in actual application can be used to generate continuous-reference voltage output quickly and the monotonicity is guaranteed. The unbalanced wire resistance in the physical layout implementation will make the Integral Nonlinearity error greater. Using our Local and Global strategies and base on interconnect length and contact count to adjust interconnect width. The strategy can reduce the wire resistance of Snaky Tango-Route March permutation to 8.99 ohm effectively, and control the standard deviation of wire resistance to 0.055 ohm in the physical layout implementation. Adjusting contact count of resistor node and make identical resistor node resistance in order to suppress Integral Nonlinearity error to 0.3215LSB.
關鍵字(中) ★ 電阻串聯式連續參考值產生器 關鍵字(英) ★ Resistor-String Successive Reference Generator
論文目次 第一章 簡介 1
1.1 前言 1
1.2 微顯影技術對設計佈局所帶來的挑戰 2
1.3 為什麼是類比 4
1.4 分析電路的架構 5
1.5 實體佈局驗證 7
1.6 論文組織 8
第二章 連續參考值產生器之衡量規格分析 9
2.1 架構 9
2.1.1 電阻串聯式 10
2.2 規格定義 11
2.2.1 Full-Scale Range( ) 11
2.2.2 LSB Step Size 11
2.2.3 解析度(Resolution) 11
2.2.4 單調性(Monotonicity) 11
2.2.5線性最小歸迴曲線(Best_fit_line) 12
2.2.6 偏移誤差(Offset Error) 14
2.2.7 增益誤差(Gain Error) 14
2.2.8 微分非線性誤差(Differential Nonlinearity error ,DNL) 15
2.2.9 積分非線性誤差(Integral Nonlinearity error ,INL) 15
2.3 連續參考值產生器分析模擬 16
2.3.1 連續參考值產生器架構 16
2.3.2 模擬方法 17
2.4 電阻佈局排列分類 19
2.4.1 TANGO行軍式排法(Tango Sequential Permutation) 19
2.4.2 二維電阻排列方式 20
2.5 二維排列之線性度分析 23
第三章 連續參考值產生器之實體佈局 24
3.1 電阻實體佈局的基本概念 24
3.2 Tango_RM@Spiral實體佈局 26
3.3 Interconnect問題 27
3.4 Tango_RM@Snake 之實體佈局步驟 31
第四章 模擬結果 35
4.1 導線電阻分析 35
4.2 實體佈局 37
4.2.1傳統循序排法 37
4.2.2 Tango行軍式蛇形排法 37
4.3 模擬結果分析 39
4.3.1 Pre-simulation的INL與DNL分佈圖 39
4.3.2 傳統循序排法Post-simulation之INL與DNL分佈圖 40
4.3.3 Tango_RM@Snake Post-simulation之INL與DNL分佈圖 41
第五章 結論 43
參考文獻 44
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[18] Mark Burns and Gordon W. Roberts, “An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement” New York:Oxford, 2001. pp.403-419
指導教授 陳竹一(Jwe-E Chen) 審核日期 2007-7-17
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