應用於印刷電路板輪廓量測之四步相位移動影像處理技術的研究

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陳信宏(Shin-Hong Chen) 查詢紙本館藏

畢業系所

光機電工程研究所

論文名稱

應用於印刷電路板輪廓量測之四步相位移動影像處理技術的研究
(A Research of Printed Circuit Board Profile Measuring Technology by Image Process with Four Phase-Shifting Method)

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摘要(中)

本研究以主動式相位移動法，針對印刷電路板上的各式元件進行相對高度的量測。目的建立一套簡易架構、快速量測、低成本的主動式非接觸光學量測系統，以高度重建三維形貌與量測體積，提升工業界檢測品質。傳統相位移動法採用精密光柵的移動產生不同相位條紋，並藉此產生高精度條紋來提高檢測精度與解析度，但傳統移動光柵容易發生條紋相位的精確度失準，使計算產生誤差。本研究採用數位投影機進行相位條紋的投影，並結合CMOS影像擷取模組與個人電腦，經由條紋影像於物件上產生的相位資訊，進行快速的面量測設備。由於採用數位投射裝置，文中探討設備造成之非線性灰階修正，並提出灰階條紋的修正方式，提升輪廓與體積計算的精確度。最後將修正結果套入實際量測驗證，並採用精密移動平台驗證系統，其高度檢測精度可達到0.01mm。

摘要(英)

This study focuses on the height profile measurement for printed circuit board (PCB). The measurement technology is based on the four phase-shifting method. We propose the easier, faster and low cost measurement system to improve the industrial inspection. In traditional phase-shifting method used grating to generate the fringes. By grating moving to get the difference phase fringes and calculate the height. But grating moving is not easy, if have some error, the result will not accurate. In this paper, we use digital projector to generate the phase fringes, with CMOS module and personal computer, we can easier and faster to measure the area data and reconstruct a 3D model. By digital projector the gray level may not linear, here propose the method to calibrate the result and actually work on the measurement system. Finally used the precision mobile platforms to confirm the height measurement accuracy is 0.01mm and prove the system has high repeatability.

關鍵字(中)

★ 相位移動法
★ 電路板元件檢測
★ 三維形貌量測

關鍵字(英)

論文目次

中文摘要 I

Abstract II

誌謝 III

目錄 IV

圖目錄 VII

表目錄 X

一、緒論 1

1-1 前言 1

1-2 研究目的與動機 3

1-3 文獻回顧 4

1-3-1 被動式量測技術 5

1-3-2 主動式量測技術 7

1-4 論文架構 10

二、理論基礎 11

2-1 光度量學 11

2-1-1 光通量 11

2-1-2 立體角 11

2-1-3 光強度 12

2-1-4 輝度 12

2-1-5 照度 13

2-2 餘弦定理 13

2-3 成像光學 16

2-3-1 理想光學系統 16

2-3-2 像差理論 16

2-5數位光源處理技術 19

2-6 曲線擬合 22

三、結構光投影原理 23

3-1 架構原理 23

3-1-1 相位移動法 23

3-1-2 三角量測法 25

3-2 四步相位移動演算 26

3-3 相位展開 28

3-4 相位與高度的轉換 30

四、數位相位投影誤差 31

4-1 相位投影週期誤差 31

4-2 系統側投影光強度誤差 32

4-3 投影灰階誤差 35

4-4 小結 37

五、實作與驗證 38

5-1 實驗設備規格與架構 38

5-2 程式設計 43

5-3 影像後處理 45

5-3-1 相位影像處理 45

5-3-2 灰階影像校正 46

5-3-3 彩色影像轉換 50

5-4 高度轉換 50

5-5 相位條紋週期的影響 53

5-6 量測與形貌重建 54

5-6-1 邊緣偵測 55

5-6-2 體積量測 56

5-7 系統量測分析 56

5-7-1 量測系統驗證 56

5-7-2 實際量測 58

六、結論與未來展望 63

6-1 結論 63

6-2 未來展望 64

參考文獻 65

參考文獻

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http://www.ni.com/white-paper/4536/zht/

指導教授

陳奇夆(Chi-Feng Chen)

審核日期

2015-8-25

推文