液晶面板色不均瑕疵消除及批量處理研究

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李明峰(Ming-feng Li) 查詢紙本館藏

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資訊工程學系在職專班

論文名稱

液晶面板色不均瑕疵消除及批量處理研究
(Study on De-mura and Batch Run for TFT-LCD)

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摘要(中)

本論文研究主要是探討液晶面板模組，在製程中所產生之色不均瑕疵 (mura) 的消除；再利用消除色不均瑕疵系統重覆做影像擷取、影像校正、產生燒錄檔、燒錄資料、影像比對的循環校正，並探討液晶面板中的色不均瑕疵圖像資料或製程上是否有相關性，是否可依照相同關係或特性來做批量的處理直接燒錄補償值；例如，影像的亮度比對、生產製程資料比對，來找出共同可接受的燒錄補償值來做色不均瑕疵校正。
液晶面板色不均瑕疵長久以來都是影響畫質均勻性的一項顯著因素，而且現在為了滿足客戶的需求，大尺寸液晶面板製程對整體的畫面均勻性更為顯著，色不均瑕疵的消除也更加重要。本實驗針對液晶面板的特性與製程資料收集，產生一個共用燒錄補償值 (common code)，直接燒錄到液晶面板上的快取記憶體來做色不均瑕疵消除校正，再大量的驗證，確認色不均瑕疵消除的程度，以恰好可辨識強度差 (just noticeable distortion, JND) 數值與水平-垂直資訊互相差異的程度數值 (H V-value)判定，另再確認迦瑪值 (Gamma value) 光學是否有影響。
實驗以取得先前同一批的液晶面板影像約100 ~ 130片資訊，將這些資訊以每的像素灰階做平均值 (mean)、去除離異值 (outlier-mean)、中位數 (median)、眾數 (mode) 換算出共通的特點當作基準共通補償值 (common code)，再以實際給約100片的液晶面板批量驗證處理的情況下，其水準影像水平資訊互相差異的程度數值約為26 ~ 24，垂直影像資訊互相差異的程度數值約為14 ~ 10，為顯著的差異修正。

摘要(英)

In Thin-Film Transistor Liquid Crystal Display (TFT-LCD) panel module manufacturing process, how to repair mura defect, make use of the gets rid of the mura defect system (De-Mura) to again do the catch image, Image region of interest (ROI), the creation de-mura repair code and burn to record the de-mura process procedure that the datas, images to compare right of again repair, and inquire into image information or the manufacturing process last relativity of mura defect in TFT-LCD, whether the processing that can do a batch quantity according to same relation or characteristic directly burns to record to compensate the value, for example: ratio to image and production manufacturing process data, calculate the value (common code) to do the de-mura.
Mura defect of TFT-LCD panel for long time for influence the even of quality as an important factor, and now for satisfying the customer′s need, big size TFT-LCD panel, the manufacturing process that de-mura is also more important. The experiment characteristic aiming at TFT-LCD panel and manufacturing process data collections produce a common code burn to record in the panel of take a flash IC to do De-Mura, again effect of a great deal of identification confirmation de-mura, the use just noticeable distortion (JND) value and degree number of image information mutual difference of horizontal-vertical direction (H and V values) to judge, another confirm the gamma value optics whether have the influence.
Experiment with the TFT-LCD panel that obtains in times before the same batch image about 100 ~ 130 pcs of information, these information with each of pixel bright degree operation of the use mean, outlier-mean, median and mode, calculate the common code, use 100 pcs of TFT-LCD panel again to in great quantities identify (batch run). The degree number of image information mutual difference of horizontal direction (H value) is about 26 ~ 24, vertical direction (V value) is about 14 ~ 10, this method is obvious improvement.

關鍵字(中)

★ 液晶面板
★ 色不均瑕疵消除
★ 批量處理
★ 共通補償值

關鍵字(英)

★ TFT-LCD panel
★ de-mura
★ batch run
★ common code
★ H and V values

論文目次

中文摘要 i
英文摘要 ii
誌謝 iv
目錄 v
圖目錄 vii
表目錄 x
第一章緒論 1
1.1.前言 1
1.2.液晶面板結構說明 2
1.3.液晶面板動作模式說明 5
1.3.1.扭曲向列模式 (Twisted nematic) TN mode 5
1.3.2.垂直配向模式 (Vertical alignment) VA mode 6
1.3.3.橫向電場驅動模式 (In plane switching) IPS mode 6
1.4.研究動機 7
1.5.系統架構 8
1.5.1.硬體設備 8
1.5.2.消除色不均瑕疵系統架構 9
1.5.3.批量處理系統架構 11
1.6.論文架構 12
第二章研究背景及問題描述 15
2.1.研究背景液晶面板製程 15
2.1.1.陣列 & 彩色濾光片製程 (array & CF process) 15
2.1.2.成盒製程 (cell process) 18
2.1.3.模組製程 (module process) 19
2.2.最終檢測站不良分類與判定標準 21
第三章消除色不均瑕疵系統研究 23
3.1.色不均瑕疵校正各項注意要件 23
3.1.1.迦瑪曲線簡介 23
3.1.2.灰階均勻性說明 24
3.2.消除色不均瑕疵系統技術描述 24
3.2.1.消除色不均瑕疵系統簡介 25
3.2.2.消除色不均瑕疵的方法 26
第四章消除色不均批量處理系統研究 32
4.1.相關量測與判定方法 32
4.1.1.實驗機台、儀器及相關說明 32
4.1.2.H及V值量測與JND 值判定 35
4.1.3.迦瑪曲線量測方法 38
4.1.4.灰階均勻性量測方法 41
4.2.色不均瑕疵成像分析與批量處理方向 43
4.2.1.相關製程之影響 43
4.2.2.液晶面板影像分析 46
第五章實驗與討論 51
5.1.實驗設計與規劃 51
5.2.實驗結果數據分析及判定 52
5.2.1.不同演算法之問題確認 52
5.3.實驗結果比較 55
5.3.1.實驗結果H及V值結果量測比較 56
5.3.2.實驗結果JND 值判定比較 62
5.4.實驗結果後光學確認 64
5.4.1.實驗結果迦瑪值確認 64
5.4.2.低、中、高灰階均勻性確認 66
第六章結論 67
參考文獻 68

參考文獻

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指導教授

曾定章(曾定章)

審核日期

2015-7-24

推文