| 姓名 |
李映萱(Ying-Syuan Li,)
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畢業系所 |
光電科學與工程學系 |
| 論文名稱 |
薄膜電晶體液晶顯示器縱條紋缺陷檢測系統之研究
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| 摘要(中) |
由於學生任於液晶顯示器行業，故因此有機會接觸許許多多的不良面板，該不不良面板不良因有可能為設計者設計有誤，抑或是工廠製程精度不足所致，或是製程環境中的環境影響，總而言之，各種千奇百種的原因直接上或間接上造成顯示器點燈後的不良現象。該不良面板為了避免後續流入客端市場，後而造成公司上人力與金額的負擔，影響後續客戶模組廠端裝機時間排程與公司商譽損害。
故顯示不良面板有必要進行解析。經由觀察不良現象面，分析與評估各種可能性後，設計實驗確認比對，最終確認顯示器不良成因，進而確認是何段製程造成的缺陷或是設計缺陷，再進一步針對需優化處，而提出改善對策與提升良率方法。
本論文主要針對TFT-LCD液晶顯示器之縱條紋現象提出新穎的觀察方法，利用顯微鏡所拍攝的影像進行影像二值化，優化觀察的方法，使不良現象能夠更清晰觀測，並追尋其規則性。
而本論文中所提及解析手法係依照設計部門與製造解析部門共同研究討論而成，並經過廠內實際製造條件允許下,方才完成此實驗。
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| 摘要(英) |
Because I am a engineer in TFT-LCD industry. So I have many opportunitys to face to bad–display TFT-LCD panels. And many bad –display TFT-LCD panels are poduced resulting in many possibility existing reasons：it’s possibly design error or the factory manufacture insufficient accuracy. Or the manufacture environment were not clean.
Many reasons would directly lead to or indirect lead to those ad–display TFT-LCD panels.
So we need to understanding how the problems with those panels
Through observing and planing the experiment to make sure what is the reason lead to the unusal-display phenomenon on TFT-LCD panels.
This paper is mainly for studing for a vertical stripes display phenomenon on TFT-LCD panels. According to analyze and plan the experiment and optimize the technique, we find the reason.
It can make a new SOP aviod to we face the similar problem after.
So we can save more cost and time.
This technique in this paper were estabished by department of design engineers and department of factory engineers.
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| 關鍵字(中) |
★ 薄膜電晶體液晶顯示器
★ 光學檢測 |
關鍵字(英) |
★ TFT-LCD |
| 論文目次 |
摘要 i
Abstract ii
誌謝 iii
目錄 v
圖目錄 viii
表目錄 xi
第一章 緒論 1
1.1 研究背景 1
1.2 研究動機 3
1.3 研究貢獻 4
1.4論文架構 4
第二章 研究方法 6
2.1 Array設計原理與製程 6
2.1.1 Array設計原理 6
2.1.2 Array製程 10
2.2 CELL設計原理與製程 12
2.2.1 彩色濾光片設計原理 12
2.2.2 彩色濾光片製程 14
2.2.3 Cell製程 16
2.3. 影像二值化 20
2.3.1 影像二值化 20
2.3.2 閥值(threshold value) 21
2.4 實驗數據處理 21
2.4.1 統計參數值介紹 21
第三章 現象觀察及初步分析 25
3.1 4W1H現象觀察 25
3.2魚骨圖分析 28
3.3解析步驟說明 28
3.4現象觀察 30
3.4.1現象觀察─改變階調現象觀察 30
3.4.2現象觀察─改變訊號頻率參數觀察 31
2.4.3現象觀察─Gate電壓調整 32
3.4.4 現象觀察─綠光下觀察單一TFT/CF 33
第四章 顯示影像與優化處理實驗 36
4.1實驗說明 36
4.2實驗儀器 36
4.3實驗步驟 37
4.3.1建立不良品Data和正常品Data比較 37
4.3.2進行待測品量測 39
4.4實驗結果 40
4.4.1建立不良品Data和正常品Data比較 40
4.4.2進行待測品量測 45
4.5實驗小結 51
第五章 利用二值化後結論分析與確認不良成因 53
5.1調查配向刷毛 53
5.2改變投產參數與驗證 56
5.3投產結果 56
5.4投產結果分析 59
5.5投產結果驗證 60
5.6投產結論 60
第六章 結論與未來展望 61
6.1 結論 61
6.2 未來展望 61
參考文獻 64
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| 參考文獻 |
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[10] 田民波，「TFT LCD 面板設計與構裝技術」西元2008年
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[12] 陳加忠，「相關係數之介紹」中興大學生物系統工程研究
[13] 國立臺灣大學 初等統計學實習課講義 (SAS)
[14] 詹弘斌，「統計區間之觀念與應用Statistical Interval:Concepts and Applications」國立交通大學理學院科技與數位學習學程碩士論文，民國99年。
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| 指導教授 |
張榮森
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審核日期 |
2017-1-18 |
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