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姓名 水修銓(Hsiu-Chuan Shui) 查詢紙本館藏 畢業系所 電機工程學系 論文名稱 異質接面雙載子電晶體之VBIC大訊號模型 建立與驗證
(The VBIC Model Establishment and Confirmation of HBTs )相關論文 檔案 [Endnote RIS 格式]
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摘要(中) 本篇論文欲針對InGaP/GaAs HBT建立準確的大訊號模型,希望模型能充分的反應元件的特性,降低電路設計者的成本。對VBIC大訊號模型與SPICE Gummel-Poon模型進行分析討論,比較優劣,並介紹VBIC模型與SPICE Gummel-Poon模型的參數轉換方法。
我們利用GCTC的InGaP/GaAs的HBT進行量測,建立VBIC大訊號模型;我們詳細的介紹VBIC模型的直流與交流參數的萃取方法;在直流參數部分包含寄生電阻參數萃取,電流相關參數萃取,溫度相關參數萃取的方法介紹,並利用比對量測與模擬電流-電壓輸出特性曲線作為直流參數的驗證;而在交流參數方面包含寄生電容參數的萃取,及傳輸時間參數的萃取流程,並利用比對模擬與量測的S參數作為交流參數的確認。
為了驗證元件非線性的特性,則利用負載-推移(load-pull)量測元件操作在2.4GHz及5.2GHz的輸出功率特性,並與元件的負載-推移模擬進行比對,驗證了VBIC模型對描述功率特性的準確度。
VBIC模型在多射級(multi-finger emitter)結構元件的應用,我們針對多射極結構元件的熱耦合(thermal coupling)效應,及因為layout所導致的拉線寄生電容效應進行修正;並對多射極結構元件負載-推移的模擬與量測進行比對,證實了加入了以上兩種效應的修正,可使得模擬的結果更接近量測的結果,使得VBIC模型在多射級結構元件的使用上更為準確。摘要(英) We try to establish an accurate VBIC model for InGaP/GaAs HBT, and the VBIC model can react characteristics of device fully, then we can decrease the cost of the circuit designers. We discuss the advantage and shortcomings to compare with SPICE Gummel-Poon(SGP) model, and introduce the method how to convert between VBIC model parameters and SGP model parameters.
We measure the InGaP/GaAs HBT of GCTC and established the VBIC large signal model;We expand the ways to extract the DC and AC parameters of VBIC model. In DC parameters part, we introduce how to extract the resistance dependent parameters, the current dependent parameters and the temperature dependent parameters, and used the I-V curve to check the accuracy of DC parameters. In AC parameters part, we introduce how to extract the parasitic capacitance dependent parameter and transient time dependent parameters, and used the S parameter to check the accuracy of AC parameters.
In order to verify the nonlinear characteristics of the device, we used load-pull measurement to measure the output power characteristics of the device which operated in 2.4 GHz and 5.2 GHz, and compare with the load-pull simulations. We prove the accuracy of the VBIC model in power characteristics.
To apply VBIC model to multi-finger emitter device, we aimed the thermal coupling effect and the parasitic capacitance from layout to correct VBIC model. And we used load-pull measurement in multi-finger device compare with load-pull simulation, and we proved that we improve the accuracy of VBIC model and measured data when we take the two effects into account.關鍵字(中) ★ 自我加熱效應
★ 功率特性
★ 異質接面雙載子電晶體
★ VBIC模型關鍵字(英) ★ HBT
★ power characteristic
★ self-heating effect
★ VBIC model論文目次 第一章 導論 01
1.1 研究動機 01
1.2 論文摘要 04
1.3 論文中名詞解釋 05
第二章 VBIC模型分析 06
2.1 SGP大訊號模型 06
2.1.1 SGP模型等效電路及相關參數 06
2.1.2 SGP模型的直流及交流方程式 10
2.2 VBIC模型等效電路及相關參數 13
2.2.1 VBIC模型等效電路及相關參數 13
2.2.2 VBIC模型的直流及交流方程式 18
2.3 VBIC模型及SGP模型的比較 26
2.4 VBIC模型及SGP模型的轉換 29
2.4.1 VIBC與SGP大訊號模型DC參數轉換分析 29
2.4.2 VIBC與SGP大訊號模型AC參數轉換分析 31
2.5 討論 32
第三章 VBIC模型參數萃取 34
3.1 直流參數萃取 37
3.1.1 寄生電阻參數之萃取 37
3.1.2 順向Gummel Plot參數之萃取 40
3.1.3 逆向Gummel Plot參數之萃取 42
3.2 溫度相關參數萃取 44
3.2.1 熱電阻與熱電容萃取 44
3.2.2 順向及逆向Gummel Plot溫度參數萃取 46
3.2.3 寄生電阻溫度參數萃取 49
3.2.4 直流參數確認 51
3.3 交流參數萃取 53
3.3.1 量測pad效應扣除 53
3.3.2 接面電容參數之萃取 55
3.3.3 傳輸時間參數之萃取 59
3.3.4 交流參數確認 63
3.4 討論 65
第四章 功率特性 66
4.1 高頻功率之討論 66
4.1.1元件高頻功率特性 66
4.1.2負載-推移量測理論分析 68
4.2 負載-推移系統之介紹 72
4.3 單一射極元件功率特性的模擬與量測 75
4.4 討論 80
第五章 多射極結構元件之功率特性 81
5.1多射極結構元件之熱效應討論 82
5.2溫度分布模型 85
5.3 溫度分布模型對VBIC模型在多射極結構元件應用上的修正 93
5.3.1 用負功率方法模擬heat sink效應 93
5.3.2 二十根射極元件的溫度分佈模擬 95
5.4 拉線寄生電容 98
5.5 多射極結構元件功率特性的模擬與量測 100
5.5.1 自我加熱效應對多射極元件功率表現的影響 101
5.5.2 拉線寄生電容對多射極元件功率表現的影響 103
5.6 討論 105
第六章 結論 107
參考文獻 109參考文獻 [1] S.M. Sze, Modern Semiconductor Device Physics, John Wiley & Sons, 1998.
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