參考文獻 |
[1] H. Morkoc, S. Strite, G. B. Gao, M. E. Lin, B. Sverdlov, and M. Burns, J. Appl.
Phys. 76, 1363 (1994)
[2] S. Nakamura, M. Senoh, S. Nagahama, N. Iwasa, T. Yamada, T. Matsushita, H.
Kiyoku, Y. Sugimoto, T. Kozaki, H. Umemoto, M. Sano, and K. Chocho, Appl. Phys. Lett. 72, 2014 (1998)
[3] M. Razeghi and A. Rogalski, J. Appl. Phys. 79, 7433 (1996)
[4] Y. F. Wu, B. P. Keller, P. Fini, S. Keller, T. J. Jenkins, L. T. Kehias, S. P. Denbaars, and U. K. Mishra, IEEE Electron Device Lett. 19, 50 (1998)
[5] J. S. Foresi and T. D. Moustakas, Appl. Phys. Lett. 82, 2859 (1993)
[6] M. E. Lin, Z. Ma, F. Y. Huang, Z. F. Fan, L. H. Allen, and H. MorkoG, Appl. Phys. Lett. 64, 1003 (1994)
[7] S. Ruvimov, Z. Lilliental-Weber, J. Washburn, K. J. Duxstad, E. E. Haller, Z.-F. Fan, S. N. Mohammad, W. Kim, O. Aktas, A. E. Botchkarev, and H. Morkoc¸, Appl. Phys. Lett. 69, 2582 (1996)
[8] B. P. Luther, S. E. Mohney, T. N. Jackson, M. Asif Khan, Q. Chen, and J. W. Yang, Appl. Phys. Lett. 70, 57 (1997)
[9] Dong-Feng Wang, Feng Shiwei, C. Lu, Abhishek Motayed, Muzar Jah, and S.
Noor Mohammad, J. Appl. Phys., 89, 6214 (2001)
[10] V. Kumar, L. Zhou, D. Selvanathan, and I. Adesida, J. Appl. Phys., 92, 1712 (2002)
[11] Zhifang Fan, S. Noor Mohammad, Wook Kim, O¨ zgu¨ r Aktas, Andrei E. Botchkarev, and Hadis Morkoc¸ Appl. Phys. Lett. 68 , 1672 (1996)
[12 ] M. Zhao, R. L. Jiang, P. Chen, D. J. Xi, H. Q. Yu, B. Shen, R. Zhang, Y. Shi, S. L. Gu,and Y. D. Zheng, Appl. Phys. Lett., 79, 218 (2001)
[13] Luo and F. Ren, R. C. Fitch, J. K. Gillespie, T. Jenkins, J. Sewell, D. Via, and A. Crespo, A. G. Baca and R. D. Briggs, D. Gotthold, R. Birkhahn, and B. Peres, S. J. Pearton, Appl. Phys. Lett., 82, 3910 (2003)
[14] I. Schnitzer and E. Yablonovitch, C. Caneau, T. J. Gmitter, and A. Scherer, Appl. Phys. Lett. 63 2174 (1993)
[15] Masayoshi Koike, Naoki Shibata, Hisaki Kato, and Yuji Takahashi, IEEE JOURNAL ON SELECTED TOPICS IN QUANTUM ELECTRONICS, 8, 271 (2002)
[16] F. Braun, Annal. Phys. Chem. 153, 556 (1874)
[17] W. Schottky, Naturwissenschaften 26, 843 (1938)
[18] Hadis Morkoc, Nitride Semiconductors and Devices, Springer, pp.196 (1999)
[19] Ralph Williams, Modern GaAs Processing Methods, Artech House, Boston London, pp.235 (1990)
[20] M. W. Cole, F. Ren, S. J. Peaton, J. Electrochem. Soc. 144, L275 (1997)
[21] B. Luo, F. Ren, R. C. Fitch, J. K. Gillespie, T. Jenkins, J. Sewell, D. Via, A. Crespo, A. G. Baca, R. D. Briggs, D. Gotthold, R. Birkhahn, B. Peres, and S. J. Pearton, Appl. Phys. Lett. 82, 3910 (2003)
[22] Dae-Woo Kim and Hong Koo Baik, Appl. Phys. Lett., 77, 1011 (2000)
[23] X. A. Cao and S. J. Pearton, A. P. Zhang, G. T. Dang, and F. Ren, R. J. Shul and L. Zhang, R. Hickman and J. M. Van Hove, Appl. Phys. Lett., Vol. 75, 2569 (1999) |