"Jacobs, W. W."的相关文件
回到依作者浏览
显示 2 项.
|
类别 |
日期 |
题名 |
作者 |
档案 |
| [物理學系] 期刊論文 |
2013-08-06 |
Precision measurement of charged pion and kaon differential cross sections in e+e- annihilation at √s=10.52 GeV |
陳鎰鋒; Leitgab, M.; Seidl, R.; Grosse Perdekamp, M.; Vossen, A.; Asner, D. M.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Bakich, A. M.; Bhuyan, B.; Bračko, M.; Chekelian, V.; Chen, P.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Chobanova, V.; Cinabro, D.; Dalseno, J.; Dutta, D.; Eidelman, S.; Fast, J. E.; Gillard, R.; Giordano, F.; Goh, Y. M.; Haba, J.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hoshi, Y.; Hou, W.-S.; Hyun, H. J.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Jacobs, W. W.; Julius, T.; Kawasaki, T.; Kim, H. J.; Kim, J. B.; Kim, J. H.; Kim, M. J.; Klucar, J.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kwon, Y.-J.; Li, Y.; Liu, Z. Q.; Liventsev, D.; Matvienko, D.; Miyata, H.; Moll, A.; Muramatsu, N.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nayak, M.; Nedelkovska, E.; Nisar, N. K.; Ogawa, S.; Okuno, S.; Olsen, S. L.; Oswald, C.; Park, H. K.; Pestotnik, R.; Petrič, M.; Röhrken, M.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Shiu, J.-G.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Sohn, Y.-S.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Starič, M.; Sumihama, M.; Tatishvili, G.; Teramoto, Y.; Tsuboyama, T.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Usov, Y.; Van Hulse, C.; Varner, G.; Vorobyev, V.; Wagner, M. N.; Wang, C. H.; Wang, J.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanabe, Y.; Williams, K. M.; Won, E.; Zhilich, V.; Zhulanov, V. |
 |
| [物理學系] 期刊論文 |
2016-02-26 |
Study of B0 → ρ+ ρ- Decays and implications for the CKM angle φ 2 |
陳鎰鋒; Vanhoefer, P.; Dalseno, J.; Said, S. Al; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Babu, V.; Bansal, V.; Barberio, E.; Behera, P.; Bhuyan, B.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Browder, T. E.; Chang, P.; Chen, A.; Chobanova, V.; Dash, N.; Dingfelder, J.; Doležal, Z.; Drásal, Z.; Dutta, D.; Eidelman, S.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Gaur, V.; Garmash, A.; Gillard, R.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Hamer, P.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; He, X. H.; Hou, W.-S.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Kang, K. H.; Kato, E.; Katrenko, P.; Kawasaki, T.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, J. B.; Kim, J. H.; Kim, S. H.; Kim, Y. J.; Korpar, S.; Križan, P.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lee, I. S.; Li, L.; Liventsev, D.; Lukin, P.; Masuda, M.; Matvienko, D.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mohanty, G. B.; Mohanty, S.; Nakano, E.; Ogawa, S.; Okuno, S.; Pakhlova, G.; Pedlar, T. K.; Pulvermacher, C.; Ribežl, E.; Ritter, M.; Sakai, Y.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Schneider, O.; Schwanda, C.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shen, C. P.; Simon, F.; Sohn, Y.-S.; Sokolov, A.; Starič, M.; Sumihama, M.; Tamponi, U.; Uchida, M.; Uglov, T.; Hulse, C. Van; Wang, C. H.; Watanabe, Y.; Yamamoto, H.; Yashchenko, S.; Yook, Y.; Zhilich, V.; Zupanc, A. |
|
|
