中大機構典藏-NCU Institutional Repository-提供博碩士論文、考古題、期刊論文、研究計畫等下載:Item 987654321/1918
English  |  正體中文  |  简体中文  |  Items with full text/Total items : 80990/80990 (100%)
Visitors : 41705573      Online Users : 3458
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
Scope Tips:
  • please add "double quotation mark" for query phrases to get precise results
  • please goto advance search for comprehansive author search
  • Adv. Search
    HomeLoginUploadHelpAboutAdminister Goto mobile version


    Please use this identifier to cite or link to this item: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/1918


    Title: 閥製品加速壽命試驗法數學模式之研究
    Authors: 謝明峯;Ming Hsieh
    Contributors: 機械工程研究所
    Keywords: 加速壽命試驗;壓力平衡閥;韋伯機率紙;Accelerated Life Testing;Pressure Balance Valve;Weibull Probability Paper
    Date: 2000-07-13
    Issue Date: 2009-09-21 11:34:22 (UTC+8)
    Publisher: 國立中央大學圖書館
    Abstract: 在本文中探討冷熱水入口溫度、壓力、動作頻率等條件對於壓力平衡閥失效(漏水)壽命之影響,並將實驗結果以各種加速壽命理論的數學模式進行回歸分析,找出最適用的數學理論模式及在該模式中的相關係數,再經由該數學模式反推其他加速壽命測試條件,進行實驗驗證。 本研究重要成果為: 1. 各操作參數中以工作壓力(52 ~ 82psi)之平均加速率最高,為4.25, 而工作溫度(63 ~ 83℃)之平均加速率為1.94,關於此兩參數之加速壽命試驗數學模式,較佳者為Bazovsky模式及Generalized Eyring模式,而Combination模式稍差。由正常工作壓力(52psi)及工作溫度(63℃)經由此三種數學模式所得中位壽命值與實驗值之誤差皆在2%以下。 2. 頻率(20 ~ 40cpm)加速法之平均加速率為2.82,但其效果隨著工作壓力或工作溫度之提高而明顯下降,在使用上應特別注意。 3. 判定壓力(52 ~ 82psi)加速法之平均加速率為1.19,其加速效果隨著工作溫度之提高而增加,但不同工作壓力下之判定壓力加速效果並無明顯改變。 4. 由破損面的觀察可知壓力平衡閥的失效機構為橡膠膜片與開關轉軸間的磨損所造成,此與壽命韋伯分佈參數β值在1 ~ 3.3之間,所代表的磨耗破壞機構是相符的。此外,由粗糙度Rmax來比較,可發現Rmax與循環數有關,而與造成壓力平衡閥之失效無關。 5. 本試驗正常壽命試驗條件為在52psi,63℃,20cpm及判定壓力52psi下操作10,0000循環數。當操作條件改為82psi,83℃,40cpm及判定壓力82psi時,僅需5918循環數,其加速率達18.2,高於本研究原設定目標值10。
    Appears in Collections:[Graduate Institute of Mechanical Engineering] Electronic Thesis & Dissertation

    Files in This Item:

    File SizeFormat


    All items in NCUIR are protected by copyright, with all rights reserved.

    社群 sharing

    ::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 | 收藏本站 | 設為首頁 | 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 隱私權政策聲明