Tin whisker growth induced by high electron current density

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題名:	Tin whisker growth induced by high electron current density
作者:	Lin,Y. W.;Lai,Yi-Shao;Lin,Y. L.;Tu,Chun-Te;Kao,C. R.
貢獻者:	化學工程與材料工程研究所
日期:	2008
上傳時間:	2010-07-06 16:16:14 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	The effect of electric current on the tin whisker growth on Sn stripes was studied. The Sn stripes, 1 mu m in thickness, were patterned on silicon wafers. The design of the Sn stripes allowed the simultaneous study of the effect of current crowding and cu
關聯:	JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS????
顯示於類別:	[化學工程與材料工程研究所] 期刊論文

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