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    題名: Breakdown voltage and reverse recovery characteristics of free-standing GaN Schottky rectifiers
    作者: Johnson,JW;Zhang,AP;Luo,WB;Ren,F;Pearton,SJ;Park,SS;Park,YJ;Chyi,JI
    貢獻者: 化學工程與材料工程研究所
    關鍵詞: TEMPERATURE-DEPENDENCE;PERFORMANCE;TRANSISTORS
    日期: 2002
    上傳時間: 2010-07-06 16:27:17 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: Schottky rectifiers with implanted p(+) guard ring edge termination fabricated on free-standing GaN substrates show reverse breakdown voltages up to 160 V in vertical geometry devices. The specific on-state resistance was in the range 1.7-30 Omega(.)cm(2)
    關聯: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
    顯示於類別:[化學工程與材料工程研究所] 期刊論文

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