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NCU Institutional Repository > 資訊電機學院 > 電機工程研究所 > 期刊論文 > Item 987654321/32124

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題名:	Testing ternary content addressable memories with comparison faults using march-like tests
作者:	Li,Jin-Fu
貢獻者:	電機工程研究所
關鍵詞:	METHODOLOGIES;ARCHITECTURE
日期:	2007
上傳時間:	2010-07-06 18:19:08 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	Ternary content addressable memory (TCAM) plays an important role in various applications for its fast lookup operation. This paper proposes several comparison fault models (i.e., the faults cause Compare operation fail) of TCAMs based on electrical defec
關聯:	IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS
顯示於類別:	[電機工程研究所] 期刊論文

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