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    題名: High-sensitivity planar Si-based MSM photodetector with very thin amorphous silicon-alloy quantum-well-like barrier layers
    作者: Lin,CS;Tu,LP;Yeh,RH;Hong,JW
    貢獻者: 電機工程研究所
    關鍵詞: SEMICONDUCTOR-METAL PHOTODETECTORS;HETEROJUNCTIONS;WAFER
    日期: 2003
    上傳時間: 2010-07-06 18:29:28 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: A high-sensitivity, low dark-current planar Si-based metal-semiconductor-metal photodetector (PD) has been successfully fabricated. Under a very weak 0.83-mum incident light power (0.5 muW) and a 4-V bias voltage, the device photocurrent-to-dark-current r
    關聯: IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS
    顯示於類別:[電機工程研究所] 期刊論文

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