Optical characterization studies of grown-in defects in ZnO epilayers grown by molecular beam epitaxy

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題名:	Optical characterization studies of grown-in defects in ZnO epilayers grown by molecular beam epitaxy
作者:	Wang,X. J.;Buyanova,I. A.;Chen,W. M.;Pan,C. J.;Tu,C. W.
貢獻者:	光電科學研究中心
關鍵詞:	MAGNETIC-RESONANCE;ESR-SPECTRA;EXCITON
日期:	2007
上傳時間:	2010-07-07 15:49:19 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	Defect formation in ZnO epilayers grown by molecular beam epitaxy (MBE) is studied by employing optical characterization techniques such as photoluminescence (PL) and optically detected magnetic resonance (ODMR). Excess of oxygen during the growth was fou
關聯:	PHYSICA B-CONDENSED MATTER
顯示於類別:	[光電科學研究中心] 期刊論文

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