| 題名: | 亂相編碼全像儲存之解碼技術;The Decryption of Random Phase Multiplexing Encoding System |
| 作者: | 游漢輝;李孝貽 |
| 貢獻者: | 光電科學研究所 |
| 關鍵詞: | 光折變;鈮酸鋰;多工儲存;亂相編碼;解碼;光電工程 |
| 日期: | 2005-07-01 |
| 上傳時間: | 2010-11-30 16:41:04 (UTC+8) |
| 出版者: | 行政院國家科學委員會 |
| 摘要: | 在這個計畫中，我們計畫研究光折變鈮酸鋰晶體在亂相編碼多工儲存（random phase multiplexing storage）時，資料的安全性問題。整個計畫為期兩年，分為三大部分。在第一部份的研究中，我們要測試各種不同摻雜濃度，不同厚度，以及不同切割的鈮酸鋰晶體，看哪一種晶體最適合用於影像的儲存。同時，我們也會改變實驗的條件以找出降低、壓制光折變晶體中的光扇效應的方法，因為任何程度的光扇效應都會破壞晶體中儲存影像的品質。在第二部分的研究中，我們要在失去用來編碼的毛玻璃，但知道儲存在晶體內的某一張影像的情況下，把儲存在晶體中的所有影像都取出來，以證明用毛玻璃編碼的資料還是可以被破解的。我們的方法是以某個已知的，已儲存於晶體中的物光去重建出編碼用的參考光，並把這道參考光以全像的方式記錄下來。用這道被記錄下來的參考光回去讀取晶體內的資訊，則其他的物光就可以被一一讀取出來。在第三部分的研究中，我們準備研究下面的課題：用變了形的物光去重建參考光。我們計畫使用經過放大縮小，旋轉，平移，或略為扭曲的儲存圖形所產生的物光去照射已存有圖形的晶體，試圖以這種方式去複製原來之參考光，並回頭再用此略有改變之參考光去照射前述之晶體，看看能否讀出其他的物光，並探討系統對物光各種的變化的容忍範圍有多大。此外，我們也要用雙摻鈮酸鋰晶體作這些實驗，並瞭解雙摻鈮酸鋰晶體在多工儲存應用時的特性。 研究期間：9308 ~ 9407 |
| 關聯: | 財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心 |
| 顯示於類別: | [光電科學研究所] 研究計畫
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