用蒙地卡羅法來分析半導體元件的交流特性;AC Characterization of Semiceonductor Devices Using the Monte-Carlo Method

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題名:	用蒙地卡羅法來分析半導體元件的交流特性;AC Characterization of Semiceonductor Devices Using the Monte-Carlo Method
作者:	蔡曜聰
貢獻者:	中央大學電機工程學系
關鍵詞:	電子電機工程類;AC特性;蒙地卡羅法;AC characterization;Monte Carlo method
日期:	1995-09-01
上傳時間:	2012-10-01 15:15:32 (UTC+8)
出版者:	行政院國家科學委員會
摘要:	本計畫想利用Monte Carlo方法,來研究半導體元件的微波特性.AC特性的分析是利用暫態分析來得到元件端點的電流暫態解,再經過傅立葉分析,可得到各頻率下元件的AC參數.元件的微波特性便可由AC參數得知.然後因為Monte Carlo的統計本性所帶來的雜訊(Noise),使得直接由Monte Carlo法求得暫態電流雜訊過大.本計畫將先求出各端點的累積電荷值,再微分以求出更平滑( Smooth)的端點暫態電流,減少AC分析的困難度.本計畫也包括探討電流增益對頻率的響應及其對元件幾何大小的變化. ; 研究期間 8308 ~ 8407
關聯:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
顯示於類別:	[電機工程學系] 研究計畫

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