液晶薄膜光學條紋分析及比熱量測

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Title:	液晶薄膜光學條紋分析及比熱量測
Authors:	吳品鈞;Pin-Jiun Wu
Contributors:	物理研究所
Keywords:	自由懸浮液晶薄膜;Smectic-L;光學條紋;比熱;對稱性破缺;週期性條紋;蜂窩形條紋;5O.6;Free-Standing Liquid-Crystal thin film;Smectic-L;optical texture;heat capacity;symmetry-breaking;periodic stripe;honeycomb texture;5O.6
Date:	2000-07-13
Issue Date:	2009-09-22 10:52:32 (UTC+8)
Publisher:	國立中央大學圖書館
Abstract:	二維融化理論預測了低維度系統的相變行為，許多的實驗結果亦紛紛證實其可能性。懸浮液晶超薄膜不僅逼近於二維系統，亦減少了來自於邊界所產生的影響。 nO.m系列的液晶材料具有傳統棒狀分子結構，但其中某些材料擁有豐富的分子傾斜相位，由於此類相位具有明顯雙折射性的性質，在光學上的表象相當多樣化，因此利用偏光顯微鏡可判別液晶薄膜豐富的相位，並且能瞭解及分析液晶分子在結構上排列的形式。比熱的量測可證實物質相變的熱力行為，雖然理論所預測的KT比熱行為仍尚未在實驗中被證實，但在實驗技術不斷進步與適當材料尋找的驅使下，相信未來可以獲得重大的發現。本篇論文主要的實驗結果如下： (1) 5O.6液晶薄膜被證實具有 Sm-L 相位，由高溫至低溫的相變過程為 Sm-C-Sm-I-Sm-L-Sm-F，與Selinger及Nelson的理論預測的結果相符。週期性條紋的產生，建議為薄膜表面形成 Sm-L 相位而導致對稱性破缺所引起的。 (2) 9O.4液晶薄膜由Sm-A相變至Sm-I為一層接著一層而變化的，並由條紋易於被轉動而變形的現象得知，其層與層之間交互作用力較弱，Sm-I可視為以Sm-A為基底而懸浮於其上。 (3) 7O.7液晶薄膜為截至目前為止較適合用來研究Sm-C-Sm-C'相變行為的材料，其分子傾斜相位之間的相轉換可建議比對於正交型液晶相變的過程，但由於材料本身性質的影響，至今仍尚未證實Sm-C'-Sm-I相變的臨界行為為KT形式。
Appears in Collections:	[Graduate Institute of Physics] Electronic Thesis & Dissertation

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