English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 80990/80990 (100%)
造訪人次 : 41632682      線上人數 : 3718
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/86135


    題名: Characterizing single-qubit gate fidelity on superconducting qubits;超導電路單量子位元邏輯閘效度之表徵
    作者: 林維恩;Lin, Wei-En
    貢獻者: 物理學系
    關鍵詞: transmon 量子位元;量子非破獲性讀取;量子邏輯閘效度;量子過程斷層掃描;隨機基準分析;circuit quantum electrodynamics;transmon qubit;quantum non-demolition readout;gate fidelity;quantum process tomography;randomized benchmarking
    日期: 2021-07-27
    上傳時間: 2021-12-07 12:07:13 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學
    摘要: 我們在超導電路系統研究原子與光的相互作用。在我們實驗室,我們製造量子超導電路,例如在一維傳輸線共振器嵌入一個小芯片的transmon 量子位元。為了獲取量子位元之系統的特性,列如共振器頻率、量子位元躍遷頻率和量子位元與共振器之耦合強度,我們藉由量子非波壞性(QND) 讀取,在強色散的區域下進行頻譜實驗。基於頻譜實驗的結果,我們利用微波脈衝序列進行單一量子位元狀態之控制實驗。最近,我們專注於單量子位元邏輯閘效度的研究。我們採取兩種方法估計邏輯閘的效度:量子過程斷層掃描和隨機基準分析。當邏輯閘的長度增加,由於量子位元的去同調性,我們發現從量子過程斷層掃描得到的效度會降低。對於20 微秒之X 跟Y 閘,藉由量子過程斷層掃描的方法,我們得到了平均邏輯閘效度約為88.58% 跟87.16%;利用隨機基準分析的方法,我們估計的平均邏輯閘效度約為97.49% 跟97.38%。由於量子過程斷層掃描的方法多估計了狀態準備以及測量上的錯誤,因此它的平均邏輯閘效度比隨機基準分析估計的還要小。;In our lab, we fabricate the quantum superconducting circuit such as the single transmon qubit embedded in a one-dimensional transmission line resonator on the small chip.
    To obtain the characteristics of superconducting qubit system, such as the resonant frequency of a resonator, qubit transition frequency, and qubit-resonator coupling strength,
    we perform spectroscopy experiments in strong dispersive regime. Based on the characteristics of the system, we carry out various qubit state control experiments with microwave
    pulse sequences. Recently, we focus on investigations of single qubit gate fidelity. We estimate gate fidelity based on two metrics: quantum process tomography (QPT), and randomized benchmarking (RB). When the gate length increases, we find that the fidelity from the QPT decrease due to the qubit decoherence effect. For 20 ns X and Y gates, we obtain the average gate fidelity 88.58% and 87.16% by the QPT ; we also estimate the average gate fidelity 97.49% and 97.38% by the RB. The fidelity via the QPT is smaller than that of the RB due to the over-estimated errors from the state preparation and measurement errors.
    顯示於類別:[物理研究所] 博碩士論文

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    index.html0KbHTML94檢視/開啟


    在NCUIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

    社群 sharing

    ::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 | 收藏本站 | 設為首頁 | 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 隱私權政策聲明