考量夾具誤差之2x-thru校正法研發;Development of 2x-Thru Calibration Algorithms Considering the Fixture-Mismatch Effect

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題名:	考量夾具誤差之2x-thru校正法研發;Development of 2x-Thru Calibration Algorithms Considering the Fixture-Mismatch Effect
作者:	周求致
貢獻者:	國立中央大學電機工程學系
關鍵詞:	散射參數量測;校正技術;2x-thru校正法;去嵌入;夾具誤差;時域反射儀;S parameter measurement;calibration technique;2x-thru calibration;de-embedding;fixture mismatch;time-domain reflectometry
日期:	2023-07-17
上傳時間:	2024-09-18 14:54:58 (UTC+8)
出版者:	國家科學及技術委員會
摘要:	2x-thru校正法，由於能以較少的量測便完成校正，故廣為業界採用。本團隊於111年度的計畫，已分析並驗證2x-thru校正之參考阻抗特性。於112年度，我們將致力於開發考量夾具偏差效應之2x-thru校正演算法。由於相關理論在文獻中鮮少揭露，我們自行提出了幾個不同層次的演算法，並預計以多個模擬及量測結果，進行準確度及重要性的分析。
關聯:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
顯示於類別:	[電機工程學系] 研究計畫

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