單晶片測試機之前端驅動電路設計

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Title:	單晶片測試機之前端驅動電路設計
Authors:	余建朋;Jian-Pong Yu
Contributors:	電機工程研究所
Keywords:	測試機;前端驅動電路;數位纇比轉換器;比較器;有限狀態機器;tester;PE circuit;DAC;comparator;FSM
Date:	2001-07-05
Issue Date:	2009-09-22 11:43:52 (UTC+8)
Publisher:	國立中央大學圖書館
Abstract:	傳統上測試機的前端驅動(PE)電路是將多個元件如參考電壓IC，驅動接收IC等組在一塊板子上。元件間由匯流排傳輸，因而限制住它的速度且面積大。在這個論文中，我們以CMOS待測物為目標來實現PE電路。我們使用tri-stae驅動器與寄生電感來達到規格的速度要求。我們使用兩個不同工作電壓區間的比較器來實現接收器。在電流負載裡我們用電流式數位類比轉換器來取代橋式二極體架構。最後，以TSMC 0.35μm 1P4M CMOS製程來實現我們設計的電路，並用Pre and post simulation 驗證設計的可能性。
Appears in Collections:	[Graduate Institute of Electrical Engineering] Electronic Thesis & Dissertation

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