體積全像光學元件內的三維折射率分布之分析、量測與優化技術;Analyzation， Measurement， and Optimization of the 3d Distribution of Refractive Index inside Volume Holographic Optical Elements

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題名:	體積全像光學元件內的三維折射率分布之分析、量測與優化技術;Analyzation， Measurement， and Optimization of the 3d Distribution of Refractive Index inside Volume Holographic Optical Elements
作者:	余業緯
貢獻者:	國立中央大學光電科學研究中心
關鍵詞:	體積全像資料儲存;近眼顯示器;折射率分佈;體積全像光學元件;光學繞射斷層掃描儀;Volume holographic data storage;near eye display;refractive index distribution;volume holographic element;optical diffractive tomography
日期:	2024-09-27
上傳時間:	2024-09-30 15:52:35 (UTC+8)
出版者:	國家科學及技術委員會(本會)
摘要:	不論是對體積全像資料儲存系統或是對近眼顯示器而言，清晰可見、可預測的3D折射率分佈對於工程研發人員而言相當重要，是據以提升產品良率的重要資訊，不良的折射率分佈不僅有損能量效率，還可能造成散射雜訊，嚴重影響系統效能。本研究的目的在於預測與量測體積全像光學元件(VHOE)內部的折射率分布，建立折射率利用率模型，並發展針對VHOE的光學繞射斷層掃描技術，研究成果將能被用於提升近眼顯示器與體積全像資料儲存系統等科技的能量效率，並能被用於提升製程良率。研究進程為：第一年建立折射率效率參數的數值模型；第二年建立光學繞射斷層掃描儀(ODT)；第三年使用ODT量測自製的體積全像片3D折射率分布，並與理論數據相
關聯:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
顯示於類別:	[光電科學研究中心] 研究計畫

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