數位運算記憶體設計與測試自動化( I );Design and Test Automation of Digital Cims( I )

NCUIR > College of Electrical Engineering & Computer Science > Department of Electrical Engineering > Research Project > Item 987654321/94276

Please use this identifier to cite or link to this item: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/94276

Title:	數位運算記憶體設計與測試自動化( I );Design and Test Automation of Digital Cims( I )
Authors:	李進福;黃世旭;許鈞瓏;陳聿廣
Contributors:	國立中央大學電機工程學系
Keywords:	人工智慧;數位運算記憶體;設計自動化;測試;測試自動化;AI;digital computing-in memories;design automation;testing;test automation
Date:	2024-09-27
Issue Date:	2024-09-30 17:22:47 (UTC+8)
Publisher:	國家科學及技術委員會(本會)
Abstract:	計畫主要開發應用於數位運算記憶體之設計與測試自動化技術，預計對學術、社會及經濟之影響如下: 學術面：在前瞻議題上開發創新技術，有利於提升台灣在運算記憶體及AI領域在學術研究上的國際能見度。社會面：參與計畫的碩、博士班的研究生畢業後加入職場，可以提升業界在此運算記憶體及AI領域前瞻技術之能力，提高產業競爭力。經濟面：有助臺灣IC設計產業升級、進而提升台灣經濟。
Relation:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
Appears in Collections:	[Department of Electrical Engineering] Research Project

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
index.html		0Kb	HTML	41	View/Open

社群 sharing