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    題名: 通用趨勢更新過程及其貝氏可靠度分析;Generic Trend Renewal Processes and Its Bayesian Reliability Analysis
    作者: 樊采虹
    貢獻者: 國立中央大學統計研究所
    關鍵詞: 可修復系統;趨勢更新過程;通用趨勢更新過程;隨機效應;性能終止時間;;Repairable system;trend renewal process;generic trend renewal process;random effects;end of performance.
    日期: 2025-07-31
    上傳時間: 2025-08-07 17:14:41 (UTC+8)
    出版者: 國家科學及技術委員會(本會)
    摘要: 在衰變試驗中,產品間常存在個別差異。本計畫探討描述如電池充放電衰變試驗之循環性資料中之趨勢更新過程之隨機效應模型。提出通用趨勢更新過程架構下可修復系統壽命之貝氏預測推論,使得趨勢更新過程可以更廣泛的應用在具有個別差異的可修復系統的衰變試驗中。
    關聯: 財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
    顯示於類別:[統計研究所] 研究計畫

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