衛星航電用快閃記憶體之輻射測試規格與執行結果;Radiation Testing Specifications and Results for Flash Memory Intended for Spacecraft Avionics Use

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題名:	衛星航電用快閃記憶體之輻射測試規格與執行結果;Radiation Testing Specifications and Results for Flash Memory Intended for Spacecraft Avionics Use
作者:	張起維
貢獻者:	國立中央大學太空科學與工程學系
關鍵詞:	太空輻射;太空電子;記憶體;單粒子事件;太空環境;抗輻射強化;Space radiation;spacecraft electronics;memory;single event effects;space environment;radiation hardening
日期:	2026-01-22
上傳時間:	2026-01-23 16:06:06 (UTC+8)
出版者:	國家科學及技術委員會(本會)
摘要:	社會影響: a. 提升國家太空科技發展的實力。 b. 培育太空產業人才。 c. 促進基礎科學研究與應用的相互合作與連結。經濟影響: a. 創造高附加價值產業鏈: 為新太空產業鏈提供相關認證產品。 b. 帶動周邊產業發展: 剛可靠度的記憶體除錯演算方法可以應用於自動駕駛、智慧醫療等要求穩定性極高的產業。產業發展影響: a. 建立太空及產品認證能力。 b. 促進技術創新與協同合作: 產學合作模式將激發企業與學術界之間的技術交流與創新，有助於突破現有技術瓶頸，加速新產品和新服務的開發。
關聯:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
顯示於類別:	[太空科學與工程學系] 研究計畫

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