紫外光及深紫外光濾光片之研製-紫外及深紫外光薄膜奈米結構製作與特性之分析(I); Nano-Lithography and Characterization of Optical Thin Films(I)

NCU Institutional Repository > 研究中心 > 光電科學研究中心 > 研究計畫 > Item 987654321/42960

jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/42960

题名:	紫外光及深紫外光濾光片之研製-紫外及深紫外光薄膜奈米結構製作與特性之分析(I);Nano-Lithography and Characterization of Optical Thin Films(I)
作者:	李建階
贡献者:	光電科學研究中心
关键词:	光電工程
日期:	2006-07-01
上传时间:	2010-12-06 16:00:27 (UTC+8)
出版者:	行政院國家科學委員會
摘要:	次波長光柵偏極化轉變性在光學設計上有極多的應用，利用次波長結構之功能即能將其製作完成，而且由光柵表面的變化，可藉以調變介質材料之均向性本質來形成一人工的雙折射效應。而現今之奈米等級的各項微光電及微製造技術需要非常高的光學解析能力，所以要提升解析能力，只有尋求更短波長如紫外光及深紫外光。基於上期計畫初步所得之研究結果，本計畫擬運用此已開發電子束微影製程技術並結合單層及多層光學薄膜之功能與子計畫一和二所提供相關薄膜之應力與非均向性分析，利用二階有效介質理論與嚴格耦合波理論進行模擬及設計，再由實際製作穿透式及反射式次波長光柵元件之實驗結果對應於理論上的模擬計算，以獲致更多的光在次波長尺度下傳遞行為的知識。並進一步研製上述紫外光及深紫外光的光學系統所需之各種濾光片，如抗反射膜、高反射鏡、偏振分光鏡、帶通濾光片及相位片等等。利用薄膜次波長光柵其所展現之雙折射性提升各種濾光片的光學成效。研究期間：9408 ~ 9507
關聯:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
显示于类别:	[光電科學研究中心] 研究計畫

文件中的档案:

档案	描述	大小	格式	浏览次数
index.html		0Kb	HTML	498	检视/开启

在NCUIR中所有的数据项都受到原著作权保护.

社群 sharing

数据加载中.....