博碩士論文 104226025 完整後設資料紀錄

DC 欄位	值	語言
DC.contributor	光電科學與工程學系	zh_TW
DC.creator	邱宣融	zh_TW
DC.creator	Hsuan-Jung Chiu	en_US
dc.date.accessioned	2018-1-26T07:39:07Z
dc.date.available	2018-1-26T07:39:07Z
dc.date.issued	2018
dc.identifier.uri	http://ir.lib.ncu.edu.tw:444/thesis/view_etd.asp?URN=104226025
dc.contributor.department	光電科學與工程學系	zh_TW
DC.description	國立中央大學	zh_TW
DC.description	National Central University	en_US
dc.description.abstract	在光學檢測領域中，大致可以分為兩種檢測方式，一為干涉儀系統，量測光程差（optical path difference）並分析干涉條紋的變形量，即可解析待測樣品之資訊；另一為波前檢測技術，如Shack-Hartmann波前感測系統（Shack-Hartmann wavefront sensor），將微透鏡陣列置於CCD前方使光源聚焦於CCD，不同於干涉儀是量測光程差，波前感測系統是量測波前斜率（wavefront slope），從微透鏡之焦長與光點偏移量即可得到波前斜率，藉由波前斜率與波前之關係式，重建出待測樣品之波前，進而分析待測樣品之品質等資訊。 Shack-Hartmann波前感測系統應用於視光學、像差量測、適應性光學等領域，本論文將利用像差與位移之量測，同時分析待測樣品之品質與折射率，並使用三種可見光波長652.5 nm、517.0 nm與447.8 nm，量測出三種折射率數值，即可使用Buchdahl之色散公式，推算在656.3 nm、587.6 nm及486.1 nm的折射率，並得到阿貝數（Abbe number）。實驗的待測樣品會用CodeV軟體進行模擬，並與Shack-Hartmann波前感測系統量測得到之成像位移與像差進行比較。	zh_TW
dc.description.abstract	在光學檢測領域中，大致可以分為兩種檢測方式，一為干涉儀系統，量測光程差（optical path difference）並分析干涉條紋的變形量，即可解析待測樣品之資訊；另一為波前檢測技術，如Shack-Hartmann波前感測系統（Shack-Hartmann wavefront sensor），將微透鏡陣列置於CCD前方使光源聚焦於CCD，不同於干涉儀是量測光程差，波前感測系統是量測波前斜率（wavefront slope），從微透鏡之焦長與光點偏移量即可得到波前斜率，藉由波前斜率與波前之關係式，重建出待測樣品之波前，進而分析待測樣品之品質等資訊。 Shack-Hartmann波前感測系統應用於視光學、像差量測、適應性光學等領域，本論文將利用像差與位移之量測，同時分析待測樣品之品質與折射率，並使用三種可見光波長652.5 nm、517.0 nm與447.8 nm，量測出三種折射率數值，即可使用Buchdahl之色散公式，推算在656.3 nm、587.6 nm及486.1 nm的折射率，並得到阿貝數（Abbe number）。實驗的待測樣品會用CodeV軟體進行模擬，並與Shack-Hartmann波前感測系統量測得到之成像位移與像差進行比較。	en_US
DC.subject	波前檢測	zh_TW
DC.subject	折射率	zh_TW
DC.subject	色散	zh_TW
DC.subject	Wavefront sensor	en_US
DC.subject	Refractive index	en_US
DC.subject	Dispersion	en_US
DC.title	使用波前檢測於折射率及色散之量測應用	zh_TW
dc.language.iso	zh-TW	zh-TW
DC.title	Using Wavefront Sensor for The Application of Refractive Index and Dispersion	en_US
DC.type	博碩士論文	zh_TW
DC.type	thesis	en_US
DC.publisher	National Central University	en_US