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語言 |
| DC.contributor | 機械工程學系 | zh_TW |
| DC.creator | 蔡振洲 | zh_TW |
| DC.creator | Chen-Chou Tsai | en_US |
| dc.date.accessioned | 2005-7-14T07:39:07Z | |
| dc.date.available | 2005-7-14T07:39:07Z | |
| dc.date.issued | 2005 | |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.ncu.edu.tw:444/thesis/view_etd.asp?URN=92323035 | |
| dc.contributor.department | 機械工程學系 | zh_TW |
| DC.description | 國立中央大學 | zh_TW |
| DC.description | National Central University | en_US |
| dc.description.abstract | 在飛彈例行的抽檢測試中，會發現部分電源模組之性能已偏離出廠時之容許值，因此本研究主要為1.瞭解飛彈電源模組於惰態儲存條件下之老化因子。2. 推估飛彈儲存30年之壽命之最低活化能。3.建立飛彈電源供應模組之加速老化模型。但由於一般飛彈部署服役的時間甚長，失效資料取得不易，因此必需在實驗室中執行加速老化試驗，以大幅縮短測試時間。
實驗中可發現到，在經過90℃、95%RH、1260 hr之加速老化實驗後，模組板上之基板材料產生變異、電阻元件之銲點發生腐蝕現象，但穩壓元件之功能正常。經由穩壓元件之加速老化實驗時間可推論，當穩壓元件B元件之活化能大於0.497eV (Generalized Eyring模式)或0.647eV (Arrhenius模式)時，其惰態儲存壽命將大於30年。實驗結果僅穩壓元件A元件有四件失效。模組板及其餘三種元件皆未失效。和歷年抽測的失效資料有所出入，且抽測失效之該元件大多屬於同一批號，因此推測可能是該批元件在出廠時即已接近異常。本研究以推估之壽命值進行範例計算，可供未來計算實際加速老化模型參數及評估時之參考。 | zh_TW |
| DC.subject | 老化 | zh_TW |
| DC.subject | 電源供應模組 | zh_TW |
| DC.subject | 飛彈 | zh_TW |
| DC.subject | 壽命評估 | zh_TW |
| DC.subject | 加速老化模型 | zh_TW |
| DC.title | 電源模組老化因子與加速試驗模型之研究 | zh_TW |
| dc.language.iso | zh-TW | zh-TW |
| DC.type | 博碩士論文 | zh_TW |
| DC.type | thesis | en_US |
| DC.publisher | National Central University | en_US |