博碩士論文 91521037 詳細資訊




以作者查詢圖書館館藏 以作者查詢臺灣博碩士 以作者查詢全國書目 勘誤回報 、線上人數:33 、訪客IP:3.148.108.201
姓名 陳銘勝(Ming-Sheng Chen)  查詢紙本館藏   畢業系所 電機工程學系
論文名稱 氮化鎵發光二極體製程技術之研究
(Process of GaN-based Light-emitting Diode)
相關論文
★ 磷化銦異質接面雙極性電晶體元件製作與特性分析★ 氮化鎵藍紫光雷射二極體之製作與特性分析
★ 氮化銦鎵發光二極體之研製★ 氮化銦鎵藍紫光發光二極體的載子傳輸行為之研究
★ 次微米磷化銦/砷化銦鎵異質接面雙極性電晶體自我對準基極平台開發★ 以 I-Line 光學微影法製作次微米氮化鎵高電子遷移率電晶體之研究
★ 矽基氮化鎵高電子遷移率電晶體 通道層與緩衝層之成長與材料特性分析★ 磊晶成長氮化鎵高電子遷移率電晶體 結構 於矽基板過程晶圓翹曲之研析
★ 氮化鎵/氮化銦鎵多層量子井藍光二極體之研製及其光電特性之研究★ 砷化銦量子點異質結構與雷射
★ 氮化鋁鎵銦藍紫光雷射二極體研製與特性分析★ p型披覆層對量子井藍色發光二極體發光機制之影響
★ 磷化銦鎵/砷化鎵異質接面雙極性電晶體鈍化層穩定性與高頻特性之研究★ 氮化鋁中間層對氮化鋁鎵/氮化鎵異質接面場效電晶體之影響
★ 不同濃度矽摻雜之氮化鋁銦鎵位障層對紫外光發光二極體發光機制之影響★ 二元與四元位障層應用於氮化銦鎵綠光二極體之光性分析
檔案 [Endnote RIS 格式]    [Bibtex 格式]    [相關文章]   [文章引用]   [完整記錄]   [館藏目錄]   [檢視]  [下載]
  1. 本電子論文使用權限為同意立即開放。
  2. 已達開放權限電子全文僅授權使用者為學術研究之目的,進行個人非營利性質之檢索、閱讀、列印。
  3. 請遵守中華民國著作權法之相關規定,切勿任意重製、散佈、改作、轉貼、播送,以免觸法。

摘要(中) 本篇論文分別針對氮化鎵發光二極體製程技術中之n型歐姆接觸電極與提升光取出效率方面進行研究分析。在n型歐姆接觸方面,製作Ti/WSix/Ti/Au歐姆接觸電極,在Ti/WSi0.05/Ti/Au (200/400/200/2000 Å)於氮氣環境下800oC、3分鐘熱處理後,可得特徵電阻值約1×10-6 Ω-cm2,不論在穩定性和反射率方面皆較傳統的鈦/鋁/鈦/金電極為佳;在提升光取出效率方面,利用表面圖樣化的方式增進氮化鎵發光二極體光取出效率,由模擬計算可知其對光取出效率有20%的提升,然而由於實驗技術未充分掌握,使得結果不如預期,若能將圖樣的製作技術加改善,必能對發光二極體的光取出效率有所助益。
關鍵字(中) ★ 光取出效率
★ 發光二極體
★ 氮化鎵
★ n型氮化鎵歐姆接觸
關鍵字(英) ★ GaN
★ LED
★ extraction effciency
★ n-type GaN ohmic contact
論文目次 第一章 導論 ………………………………………………………1
第二章 實驗原理與製程 ……………………………………5
2.1 金屬與半導體的歐姆接觸原理…………………………………5
2.2 特徵接觸電阻的量測……………………………………………10
2.3 氮化鎵發光二極體光取出的限制………………………………13
2.4 n型氮化鎵歐姆接觸之半導體製程 ……………………………14
2.4.1 試片結構……………………………………………………14
2.4.2 製作流程……………………………………………………14
2.5 表面圖樣化氮化鎵發光二極體之製程…………………………17
2.5.1 試片結構……………………………………………………17
2.5.2 製作流程……………………………………………………18
第三章 矽化鎢於n型氮化鎵歐姆接觸之研究………24
3.1 序論………………………………………………………………24
3.2 金屬組成的優化…………………………………………………25
3.3 矽化鎢比例的選定………………………………………………29
3.3.1 不同比例矽化鎢的製作……………………………………30
3.3.2 不同比例矽化鎢電極之電性………………………………32
3.4 矽化鎢厚度的決擇………………………………………………34
3.5 鈦/矽化鎢/鈦/金 歐姆接觸的機制……………………………36
3.6 歐姆接觸的穩定性………………………………………………39
3.6.1 金屬電極的表面形態………………………………………39
3.6.2 金屬電極的熱穩定性………………………………………41
3.7 歐姆接觸的反射率………………………………………………42
第四章 表面圖樣化對氮化鎵發光二極體效率之影響 ……………………………………………………………………45
4.1 序論………………………………………………………………45
4.2 模擬分析…………………………………………………………46
4.2.1 不同圖樣對光取出效率的模擬……………………………46
4.2.1 6微米的表面圖樣對氮化鎵發光二極體光取出效率之模擬………………………………………………………………………48
4.3 選定圖樣的製作…………………………………………………49
4.4 表面圖樣化對氮化鎵發光二極體特性之影響…………………50
4.4.1 電性…………………………………………………………50
4.4.2 光性…………………………………………………………51
4.5 光取出效率劣化的分析…………………………………………54
第五章 結論………………………………………………………55
參考文獻 [1] H. Morkoc, S. Strite, G. B. Gao, M. E. Lin, B. Sverdlov, and M. Burns, J. Appl.
Phys. 76, 1363 (1994)
[2] S. Nakamura, M. Senoh, S. Nagahama, N. Iwasa, T. Yamada, T. Matsushita, H.
Kiyoku, Y. Sugimoto, T. Kozaki, H. Umemoto, M. Sano, and K. Chocho, Appl. Phys. Lett. 72, 2014 (1998)
[3] M. Razeghi and A. Rogalski, J. Appl. Phys. 79, 7433 (1996)
[4] Y. F. Wu, B. P. Keller, P. Fini, S. Keller, T. J. Jenkins, L. T. Kehias, S. P. Denbaars, and U. K. Mishra, IEEE Electron Device Lett. 19, 50 (1998)
[5] J. S. Foresi and T. D. Moustakas, Appl. Phys. Lett. 82, 2859 (1993)
[6] M. E. Lin, Z. Ma, F. Y. Huang, Z. F. Fan, L. H. Allen, and H. MorkoG, Appl. Phys. Lett. 64, 1003 (1994)
[7] S. Ruvimov, Z. Lilliental-Weber, J. Washburn, K. J. Duxstad, E. E. Haller, Z.-F. Fan, S. N. Mohammad, W. Kim, O. Aktas, A. E. Botchkarev, and H. Morkoc¸, Appl. Phys. Lett. 69, 2582 (1996)
[8] B. P. Luther, S. E. Mohney, T. N. Jackson, M. Asif Khan, Q. Chen, and J. W. Yang, Appl. Phys. Lett. 70, 57 (1997)
[9] Dong-Feng Wang, Feng Shiwei, C. Lu, Abhishek Motayed, Muzar Jah, and S.
Noor Mohammad, J. Appl. Phys., 89, 6214 (2001)
[10] V. Kumar, L. Zhou, D. Selvanathan, and I. Adesida, J. Appl. Phys., 92, 1712 (2002)
[11] Zhifang Fan, S. Noor Mohammad, Wook Kim, O¨ zgu¨ r Aktas, Andrei E. Botchkarev, and Hadis Morkoc¸ Appl. Phys. Lett. 68 , 1672 (1996)
[12 ] M. Zhao, R. L. Jiang, P. Chen, D. J. Xi, H. Q. Yu, B. Shen, R. Zhang, Y. Shi, S. L. Gu,and Y. D. Zheng, Appl. Phys. Lett., 79, 218 (2001)
[13] Luo and F. Ren, R. C. Fitch, J. K. Gillespie, T. Jenkins, J. Sewell, D. Via, and A. Crespo, A. G. Baca and R. D. Briggs, D. Gotthold, R. Birkhahn, and B. Peres, S. J. Pearton, Appl. Phys. Lett., 82, 3910 (2003)
[14] I. Schnitzer and E. Yablonovitch, C. Caneau, T. J. Gmitter, and A. Scherer, Appl. Phys. Lett. 63 2174 (1993)
[15] Masayoshi Koike, Naoki Shibata, Hisaki Kato, and Yuji Takahashi, IEEE JOURNAL ON SELECTED TOPICS IN QUANTUM ELECTRONICS, 8, 271 (2002)
[16] F. Braun, Annal. Phys. Chem. 153, 556 (1874)
[17] W. Schottky, Naturwissenschaften 26, 843 (1938)
[18] Hadis Morkoc, Nitride Semiconductors and Devices, Springer, pp.196 (1999)
[19] Ralph Williams, Modern GaAs Processing Methods, Artech House, Boston London, pp.235 (1990)
[20] M. W. Cole, F. Ren, S. J. Peaton, J. Electrochem. Soc. 144, L275 (1997)
[21] B. Luo, F. Ren, R. C. Fitch, J. K. Gillespie, T. Jenkins, J. Sewell, D. Via, A. Crespo, A. G. Baca, R. D. Briggs, D. Gotthold, R. Birkhahn, B. Peres, and S. J. Pearton, Appl. Phys. Lett. 82, 3910 (2003)
[22] Dae-Woo Kim and Hong Koo Baik, Appl. Phys. Lett., 77, 1011 (2000)
[23] X. A. Cao and S. J. Pearton, A. P. Zhang, G. T. Dang, and F. Ren, R. J. Shul and L. Zhang, R. Hickman and J. M. Van Hove, Appl. Phys. Lett., Vol. 75, 2569 (1999)
指導教授 綦振瀛(Jen-inn Chyi) 審核日期 2004-7-15
推文 facebook   plurk   twitter   funp   google   live   udn   HD   myshare   reddit   netvibes   friend   youpush   delicious   baidu   
網路書籤 Google bookmarks   del.icio.us   hemidemi   myshare   

若有論文相關問題,請聯絡國立中央大學圖書館推廣服務組 TEL:(03)422-7151轉57407,或E-mail聯絡  - 隱私權政策聲明