English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 78937/78937 (100%)
造訪人次 : 39423749      線上人數 : 574
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/13442


    題名: SPC於具有多種變異來源之製程的應用
    作者: 葉順興;Shun-Hsin Yeh
    貢獻者: 管理學院高階主管企管碩士班
    關鍵詞: Shewhart Chart;變異數分析;統計製程管制;重覆性與再現性分析;多變量統計製程管制
    日期: 2002-07-08
    上傳時間: 2009-09-22 15:32:06 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學圖書館
    摘要: 「統計製程管制」(Statistical Process Control,SPC)乃是一套自製程中去搜集資料,利用統計方法加以分析,並從分析中去發掘及探討異常原因,並即時採取改正行動,使製程恢復管制的狀態。也就是戴明博士所說:「品質不應再依賴進料及出貨的抽樣檢驗,而應該採用就在生產過程中,以良好的管理方法來獲得良好的品質」及「要運用統計的原理與技術,以決定製程能力」;裘蘭博士亦說:「直線管理者必須參與品質管理」。 由於色料的生產,產品非常多樣且各產品原料供應來源多,再加上化學合成反應大都需要經過繁複的單元製造過程,所以必須應用一套適宜周延的SPC管理體系,來維繫與改善製程品質。本論文嘗試引用以TQM及6-Sigma的改善精神,以實際生產為例,導引出色料生產現場的品質管制與分析架構。主要針對儀器量具重覆性與再現性分析(GR&R)、統計製程管制、變異數分析、實驗計劃參數設計(DOE)系統、分別加以探討,整理出分析流程及方法,並將以上工具整合應用,利用GR&R分析來研判量測系統或量測方法的適用性,變異數分析來偵測製程變異來源,進而運用實驗計劃參數設計找出製程的最適參數,把製程之變異減至最低,提升製程的穩定性及產品品質,最終能使滿足客戶需求及降低生產成本,達成最佳的生產績效。
    顯示於類別:[高階主管企管(EMBA)碩士班] 博碩士論文

    文件中的檔案:

    檔案 大小格式瀏覽次數


    在NCUIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

    社群 sharing

    ::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 | 收藏本站 | 設為首頁 | 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 隱私權政策聲明