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    題名: Pronounced electromigration of Cu in molten Sn-based solders
    作者: Huang,J. R.;Tsai,C. M.;Lin,Y. W.;Kao,C. R.
    貢獻者: 化學工程與材料工程研究所
    關鍵詞: INTERMETALLIC COMPOUND;INTERFACIAL REACTIONS;INDUCED FAILURE;JOINTS;INTERCONNECTS;PROPAGATION;DISSOLUTION;COPPER
    日期: 2008
    上傳時間: 2010-07-06 16:15:51 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: The high local temperature in flip-chip solder joints of microprocessors has raised concerns that the solder, a low melting temperature alloy, might locally liquefy and consequently cause failure of the microprocessors. This article reports a highly inter
    關聯: JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH????
    顯示於類別:[化學工程與材料工程研究所] 期刊論文

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