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    題名: MgO/p-GaN enhancement mode metal-oxide semiconductor field-effect transistors
    作者: Irokawa,Y;Nakano,Y;Ishiko,M;Kachi,T;Kim,J;Ren,F;Gila,BP;Onstine,AH;Abernathy,CR;Pearton,SJ;Pan,CC;Chen,GT;Chyi,JI
    貢獻者: 電機工程研究所
    關鍵詞: CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION;N-TYPE GAN;INVERSION BEHAVIOR;ELECTRICAL CHARACTERIZATION;GATE OXIDE;DIODES;INTERFACE;DENSITY;DIELECTRICS;PERFORMANCE
    日期: 2004
    上傳時間: 2010-07-06 18:27:02 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: We report the initial demonstration of an enhancement mode MgO/p-GaN metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (MOSFET) utilizing Si ion-implanted regions under the source and drain to provide a source of minority carriers for inversion. The break
    關聯: APPLIED PHYSICS LETTERS
    顯示於類別:[電機工程研究所] 期刊論文

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