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    题名: Er diffusion into gallium nitride
    作者: Chen,CC;Ting,YS;Lee,CC;Chi,GC;Chakraborty,P;Chini,T;Chuang,HW;Tsang,JS;Kuo,CT;Tsai,WC;Chen,SH;Chyi,JI
    贡献者: 電機工程研究所
    关键词: MOLECULAR-BEAM EPITAXY;DOPED GAN;IMPLANTED GAN;EMISSION;PHOTOLUMINESCENCE;ELECTROLUMINESCENCE;SI;EU
    日期: 2003
    上传时间: 2010-07-06 18:29:13 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: In this study, we report the diffusion mechanism of Er in GaN and the optical properties of Er-diffused GaN. The diffusion coefficient has been measured by Rutherford backscattering spectroscopy and secondary ion mass spectrometry. Erbium is also implante
    關聯: SOLID-STATE ELECTRONICS
    显示于类别:[電機工程研究所] 期刊論文

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