A behavior-level fault model for the closed-loop operational amplifier

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题名:	A behavior-level fault model for the closed-loop operational amplifier
作者:	Chang,YJ;Lee,CL;Chen,JE;Su,CC
贡献者:	電機工程研究所
关键词:	ANALOG
日期:	2000
上传时间:	2010-07-06 18:35:04 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	In this paper, a simple behavior-level fault model, which is able to represent the faulty behavior of the closed-loop operational amplifier (OP), is presented. The fault model, derived from the macro equivalent circuit of the OP but verified with transist
關聯:	JOURNAL OF INFORMATION SCIENCE AND ENGINEERING
显示于类别:	[電機工程研究所] 期刊論文

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