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    题名: A behavior-level fault model for the closed-loop operational amplifier
    作者: Chang,YJ;Lee,CL;Chen,JE;Su,CC
    贡献者: 電機工程研究所
    关键词: ANALOG
    日期: 2000
    上传时间: 2010-07-06 18:35:04 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: In this paper, a simple behavior-level fault model, which is able to represent the faulty behavior of the closed-loop operational amplifier (OP), is presented. The fault model, derived from the macro equivalent circuit of the OP but verified with transist
    關聯: JOURNAL OF INFORMATION SCIENCE AND ENGINEERING
    显示于类别:[電機工程研究所] 期刊論文

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