Investigation of degradation for ohmic performance of oxidized Au/Ni/Mg-doped GaN

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題名:	Investigation of degradation for ohmic performance of oxidized Au/Ni/Mg-doped GaN
作者:	Lin,YJ;Li,ZD;Hsu,CW;Chien,FT;Lee,CT;Shao,ST;Chang,HC
貢獻者:	光電科學與工程學系
關鍵詞:	P-TYPE GAN;CONTACTS
日期:	2003
上傳時間:	2010-07-07 14:14:39 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	The mechanism of ohmic contact degradation for the oxidized Au/Ni/Mg-doped GaN under various annealing times has been investigated. According to the results from x-ray photoelectron spectroscopy and the Cserveny's concept, we found that an increase of hol
關聯:	APPLIED PHYSICS LETTERS
顯示於類別:	[光電科學與工程學系] 期刊論文

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