English  |  正體中文  |  简体中文  |  Items with full text/Total items : 65421/65421 (100%)
Visitors : 22269421      Online Users : 160
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
Scope Tips:
  • please add "double quotation mark" for query phrases to get precise results
  • please goto advance search for comprehansive author search
  • Adv. Search
    HomeLoginUploadHelpAboutAdminister Goto mobile version


    Please use this identifier to cite or link to this item: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/6654


    Title: 微光學元件品質評鑑
    Authors: 林宇仁;Yu-Ren Lin
    Contributors: 光電科學研究所
    Keywords: 像差;DVD;微光學元件
    Date: 2001-06-22
    Issue Date: 2009-09-22 10:25:01 (UTC+8)
    Publisher: 國立中央大學圖書館
    Abstract: 有鑑於傳統的像差分析大多必須取得干涉條紋,由干涉條紋配合使用Zernike’s多項式,反推像差係數。吾人經由一個簡單的方法分析出像差的係數的相對值,藉以評價光學聚焦系統的品質。我們的方法不須要取得干涉條紋,只需使用光學放大系統配合使用CCD(Charge-Coupled Device)攝影機來拍攝該透鏡的成像點,再利用電腦轉換為光場強度分佈圖,進而分析這光場強度分佈圖,由圖形所顯示的特徵即可求得像差係數。分析的過程是讓電腦來判斷像差係數的量,因為不同的像差係數會有不同的聚焦圖形表徵,藉由我們獨特的SOS(shift or shrink)法,就可以一步一步的逼近出近似的像差係數相對值。經由我們所求得的像差係數再計算DVD讀取頭的MTF曲線,進而達到微光學元件完整的品質評鑑。我們的研究中也一併分析了雷射光的高斯模態。 none
    Appears in Collections:[光電科學研究所] 博碩士論文

    Files in This Item:

    File SizeFormat
    0KbUnknown632View/Open


    All items in NCUIR are protected by copyright, with all rights reserved.

    社群 sharing

    ::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 | 收藏本站 | 設為首頁 | 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - Feedback  - 隱私權政策聲明