韋伯可靠度檢定問題之探討

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题名:	韋伯可靠度檢定問題之探討
作者:	陳志偉;Zhi-Wei Chen
贡献者:	統計研究所
关键词:	韋伯;可靠度;檢定;reliability
日期:	2004-06-03
上传时间:	2009-09-22 11:00:06 (UTC+8)
出版者:	國立中央大學圖書館
摘要:	本文主要是在探討在不同的設限資料型態之下，如何對韋伯分配的可靠度作假設檢定。我們所考慮的資料形態有一組原件(single socket)、多組元件(multiple socket)、型I設限資料(Type I censored data)以及型Ⅱ設限資料(Type II censored data)，而我們所利用的檢定方法有二項檢定(binomial test) 、概似比檢定(likelihood ratio test)、log-likelihood ratio test、最大概似估計量(maximum likelihood estimator)的大樣本性質以及score檢定。為比較各種檢定之優劣，本文透過模擬範例，以檢定力(power)作為比較的依據。結果顯示無論是在小樣本或者是大樣本之下，以概似比檢定表現的結果最令人滿意，其所以得到的檢定力都比其它檢定方法來的高，至於其它在大樣本之下所產生的檢定方法，像是log-likelihood ratio test、最大概似估計量的大樣本性質、score檢定或者是型Ⅱ設限資料中可變動基準量的近似分配方法，則需要樣本數大時，才能得到不錯的結果。
显示于类别:	[統計研究所] 博碩士論文

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