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    題名: 韋伯可靠度檢定問題之探討
    作者: 陳志偉;Zhi-Wei Chen
    貢獻者: 統計研究所
    關鍵詞: 韋伯;可靠度;檢定;reliability
    日期: 2004-06-03
    上傳時間: 2009-09-22 11:00:06 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學圖書館
    摘要: 本文主要是在探討在不同的設限資料型態之下,如何對韋伯分配的可靠度作假設檢定。我們所考慮的資料形態有一組原件(single socket)、多組元件(multiple socket)、型I設限資料(Type I censored data)以及型Ⅱ設限資料(Type II censored data),而我們所利用的檢定方法有二項檢定(binomial test) 、概似比檢定(likelihood ratio test)、log-likelihood ratio test、最大概似估計量(maximum likelihood estimator)的大樣本性質以及score檢定。 為比較各種檢定之優劣,本文透過模擬範例,以檢定力(power)作為比較的依據。結果顯示無論是在小樣本或者是大樣本之下,以概似比檢定表現的結果最令人滿意,其所以得到的檢定力都比其它檢定方法來的高,至於其它在大樣本之下所產生的檢定方法,像是log-likelihood ratio test、最大概似估計量的大樣本性質、score檢定或者是型Ⅱ設限資料中可變動基準量的近似分配方法,則需要樣本數大時,才能得到不錯的結果。
    顯示於類別:[統計研究所] 博碩士論文

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