English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 80990/80990 (100%)
造訪人次 : 42576205      線上人數 : 1224
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/85043


    題名: 生產成本差異與企業社會責任的標準認證
    作者: 陳威佐;Chen, Wei-Tso
    貢獻者: 經濟學系
    關鍵詞: 企業社會責任;認證標準;Corporate Social Responsibility;Certification
    日期: 2021-01-18
    上傳時間: 2021-03-18 17:28:07 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學
    摘要: 本文針對市場中高低成本兩家廠商,透過選擇參與認證以提高消費者願付價格進行探討。若廠商在市場中進行數量競爭,我們發現當市場規模及商品異質程度足夠大,兩家廠商皆參與認證會產生最高的消費者剩餘,兩家廠商皆不參與認證對應的消費者剩餘最低。當市場規模增加,廠商進行認證的整體標準會上升;成本差額上升時,僅高成本廠商參與認證的標準範圍擴大,僅低成本廠商參與認證的標準範圍縮小,兩家皆參與認證以及兩家皆不參與認證的標準範圍縮小;最後,當市場競爭程度上升,且商品間具有一定異質性,廠商願意進行認證的整體標準下降。;This article given the market in the different cost of two manufacturers, the choice participates in the authentication enhancing the consumer be willing to pay a higher price. If the manufacturer carries on quantity competition in the market, we discovered when the market scale and the goods heterogeneity degree is high enough, two manufacturers all participate in the authentication being able to produce the highest consumer surplus, two manufacturers all do not participate in the authentication produce the lowest consumer surplus. When the market scale increases, the standard of manufacturer willing to participate in the authentication rises; When cost difference rise, the scope of only high-cost manufacturer participates in the authentication scope expands, the range of only low-cost manufacturer participates in the authentication will drop; Finally, when the market competition degree rises, the standard of manufacturer willing to carry on drops.
    顯示於類別:[經濟研究所 ] 博碩士論文

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    index.html0KbHTML136檢視/開啟


    在NCUIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

    社群 sharing

    ::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 | 收藏本站 | 設為首頁 | 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 隱私權政策聲明