基於IEEE 1057之類比數位轉換器量測技術; IEEE 1057 Based ADC Test Methodology

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Title:	基於IEEE 1057之類比數位轉換器量測技術;IEEE 1057 Based ADC Test Methodology
Authors:	蔡良盛;Lian-She Tsai
Contributors:	電機工程研究所
Keywords:	混合信號量測;類比數位轉換器;類比數位轉換器量測技術;Mix signal testing;analog to digital;analog to digital test methodology
Date:	2000-06-30
Issue Date:	2009-09-22 11:38:17 (UTC+8)
Publisher:	國立中央大學圖書館
Abstract:	近年來由於混合信號的量測的需求據增，再加上單晶系統(system on chip:SOC)技術快速發展，使得晶片的容量變大，因而使得測試相對變的較複雜，所需測試時間亦較長，因此我們便根據IEEE 1057的標準，提出各種不同的量測方法，使傳統的大型混合信號測試機台，可以有一個很好的量測技術方法可參考。為了使量測不因取樣的關係，產生不應該有的錯誤，因此我們先提出取樣點的頻率與週期的決選方法，為了使IEEE 1057(IEEE Standard for Digitizing Waveform Recorders)的各種量測方法，能夠看出對類比數位轉換器(analog to digital converter:ADC)的明顯差異，因此我們提出了非理想類比數位轉換器的錯誤模型，接著利用建立起來的非理想類比數位轉換器模型，使用IEEE 1057各種不同方法，針對我們數位類比轉換器量測比較其非理想特性，與雜訊對我們實際量測的差異，最後為了方便使用者能夠很方便的更改類比數位轉換器的各種規格，進行觀察各種測試方法所得到的不同結果，因此我們以MATLAB建立起一個使用者介面，使我們能夠很輕易更改不同的類比數位轉換器規格，並迅速的顯示各種不同的量測結果。
Appears in Collections:	[電機工程研究所] 博碩士論文

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