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    题名: 以行為模型建立鎖相迴路之非理想現象的研究;On Behavioral Modeling for Phase-Locked Loop Circuits with Non-Ideal Effects
    作者: 王裕謙;Yu-Chein Wang
    贡献者: 電機工程研究所
    关键词: 鎖相迴路;行為模型;behavioral model;PLL
    日期: 2004-07-07
    上传时间: 2009-09-22 11:53:30 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學圖書館
    摘要: 在SoC(system-on-chip)的時代,隨著電路設計複雜度的增加,模擬所花費的時間也隨著增加,為了快速驗證設計者的電路,尤其是在混合電路的模擬上,許多努力都致力於將電路提高到行為層級描寫,以加快此設計流程。過去這幾年來,當設計者在發展類比電路或是混合信號電路的時候,SPICE電路模擬器一直都是最基本的設計與驗証工具,但是隨著半導體技術的不斷發展、推出市場的快速要求(time-to-market)……等等,傳統的SPICE模擬器再也無法滿足先進電路的設計需求了。此論文裡,我們提出了一套利用Verilog-A硬體描述語言建立PLL電路之行為模組的方法,並建立了一套標準的參數粹取流程,利用bottom-up(由下而上的)的驗證方式,將電路的非理想因素粹取出來,使得我們此PLL行為模組能更接近實際傳統的電晶體層級(transistor level)的模擬結果。最重要的,我們提出的這種回填參數的方法能適用於各種多變的PLL鎖相迴路電路,使它不受制於電路的架構與特性。 On Behavioral Modeling for Phase-Locked Loop Circuits with Non-Ideal Effects
    显示于类别:[電機工程研究所] 博碩士論文

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