以行為模型建立鎖相迴路之非理想現象的研究; On Behavioral Modeling for Phase-Locked Loop Circuits with Non-Ideal Effects

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题名:	以行為模型建立鎖相迴路之非理想現象的研究;On Behavioral Modeling for Phase-Locked Loop Circuits with Non-Ideal Effects
作者:	王裕謙;Yu-Chein Wang
贡献者:	電機工程研究所
关键词:	鎖相迴路;行為模型;behavioral model;PLL
日期:	2004-07-07
上传时间:	2009-09-22 11:53:30 (UTC+8)
出版者:	國立中央大學圖書館
摘要:	在SoC(system-on-chip)的時代，隨著電路設計複雜度的增加，模擬所花費的時間也隨著增加，為了快速驗證設計者的電路，尤其是在混合電路的模擬上，許多努力都致力於將電路提高到行為層級描寫，以加快此設計流程。過去這幾年來，當設計者在發展類比電路或是混合信號電路的時候，SPICE電路模擬器一直都是最基本的設計與驗証工具，但是隨著半導體技術的不斷發展、推出市場的快速要求(time-to-market)……等等，傳統的SPICE模擬器再也無法滿足先進電路的設計需求了。此論文裡，我們提出了一套利用Verilog-A硬體描述語言建立PLL電路之行為模組的方法，並建立了一套標準的參數粹取流程，利用bottom-up(由下而上的)的驗證方式，將電路的非理想因素粹取出來，使得我們此PLL行為模組能更接近實際傳統的電晶體層級(transistor level)的模擬結果。最重要的，我們提出的這種回填參數的方法能適用於各種多變的PLL鎖相迴路電路，使它不受制於電路的架構與特性。 On Behavioral Modeling for Phase-Locked Loop Circuits with Non-Ideal Effects
显示于类别:	[電機工程研究所] 博碩士論文

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